[发明专利]微分相位对比成像

权利要求书

1.一种用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅（14，15），包括第一子区域（23），所述第一子区域具有：

-第一光栅结构（26）的至少一个部分（24）；以及

-第二光栅结构（30）的至少一个部分（28）；

其中，所述第一光栅结构包括周期性布置的具有第一光栅取向G_O1（37）的多个条（34）和间隙（36）；其中，布置所述条使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度，并且其中，所述间隙能透过X射线；

其中，所述第二光栅结构包括周期性布置的具有第二光栅取向G_O2（44）的多个条（40）和间隙（42）；其中，布置所述条使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度，并且其中，所述间隙能透过X射线；并且

其中，所述第一光栅取向G_O1与所述第二光栅取向G_O2不同。

2.根据权利要求1所述的衍射光栅，其中，相对于所述第二光栅取向G_O2横向地布置所述第一光栅取向G_O1。

3.根据权利要求1或2所述的衍射光栅，其中，在所述衍射光栅的区域上以棋盘图案（56）布置所述第一光栅结构和所述第二光栅结构的各部分。

4.根据权利要求1、2或3之一所述的衍射光栅，其中，提供第二子区域（204）的至少一个部分（202）；其中，所述第二子区域能透过X射线，并且其中，所述第二子区域的所述至少一个部分在所述光栅中提供能透过X射线的孔径（206）；并且

其中，沿至少一个方向以交替方式布置所述第一子区域和所述第二子区域的各部分。

5.根据权利要求4所述的衍射光栅，其中，在所述衍射光栅的区域上以棋盘配置（207）布置所述第一子区域和所述第二子区域的各部分。

6.一种用于产生对象的相位对比图像的X射线系统的探测器装置（10），包括：

-第一衍射光栅（15）；

-第二衍射光栅（14）；以及

-具有传感器的探测器（12）；

其中，所述传感器包括第一子组（18）像素的至少一个传感器像素（16）和第二子组像素（22）的至少一个传感器像素（20）；

其中，所述第一衍射光栅是相位光栅（15）；

其中，所述第二衍射光栅是分析器光栅（14）；

其中，提供所述相位光栅和所述分析器光栅作为根据前述权利要求之一所述的用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅；

其中，所述分析器光栅或相位光栅适于相对于所述分析器光栅以预定关系步进；

其中，所述第一衍射光栅和所述第二衍射光栅均适于相对于所述传感器从第一位置（P1）以第一平移间距P_T1平移到至少第二位置（P2）；

其中，针对所述衍射光栅的第一光栅结构和/或第二光栅结构的各部分调整所述平移间距P_T1；并且

其中，在所述第一位置和所述第二位置，在所述第一光栅结构和所述第二光栅结构的各部分后方布置所述传感器的不同部分。

7.根据权利要求6所述的探测器装置，其中，所述第二衍射光栅适于以相对于所述第一光栅结构或所述第二光栅结构成锐角（92）的方式被相位步进。

8.一种用于产生对象的相位对比图像的X射线图像采集装置（510），具有：

-X射线源（512）；

-源光栅（518）；

-相位光栅（520）；

-分析器光栅（522）；以及

-探测器（514）；

其中，所述X射线源产生多色谱X射线的X射线束（536）；

其中，所述源光栅适于将所述多色谱X射线的X射线束分裂成分裂的射束（538）；

其中，所述相位光栅适于在分析器平面中重新组合所述分裂的射束；并且

其中，提供所述相位光栅、所述分析器光栅和所述探测器作为根据权利要求6或7之一所述的探测器装置。