[发明专利]欠采样多能量计算机断层摄影(CT)数据采集数据处理有效
申请号: | 201180051662.6 | 申请日: | 2011-10-26 |
公开(公告)号: | CN103179905A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | G·谢克特 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G01N23/04;G06T11/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采样 多能 计算机 断层 摄影 ct 数据 采集 数据处理 | ||
1.一种方法,包括:
从欠采样混合kVp正弦图中提取针对预先确定的感兴趣kVp的完全采样固定kVp正弦图,所述欠采样混合kVp正弦图由切换kVp计算机断层摄影扫描生成。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
基于所述欠采样混合kVp正弦图生成局部kVp调制特征图的估计;以及
通过从所述欠采样混合kVp正弦图减去所述估计,提取所述完全采样固定kVp正弦图。
3.根据权利要求2所述的方法,还包括:
通过将所述欠采样混合kVp正弦图的一维周期节段折叠在一起,生成一段切换周期的平均kVp调制特征图;以及
生成局部调制特征图幅度对所述平均调制特征图的幅度的比率。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述欠采样混合kVp正弦图包括多个调制周期的二维或三维阵列,并且还包括:
通过将所述多个调制周期在调制周期上进行平均以生成单个平均调制周期,从而生成所述平均kVp调制特征图。
5.根据权利要求3到4中任一项所述的方法,还包括:
通过将所述欠采样混合kVp正弦图与定制用于检测kVp调制的卷积核进行卷积,从而生成卷积正弦图;以及
通过将所述卷积正弦图在所述调制周期上平均以生成所述一段切换周期的单个平均卷积特征图,从而生成所述卷积kVp正弦图的平均;以及
生成所述特征图沿所述卷积正弦图的一个切换周期的局部幅度与平均卷积特征图的幅度间的比率。
6.根据权利要求5所述的方法,还包括:
生成指示所述卷积正弦图的局部特征图幅度与所述平均卷积特征图的幅度间的比率的局部信号比率;
生成指示在所述卷积正弦图的所述局部特征图和平均特征图间的相关性的相关系数;以及
用所述局部相关系数乘以所述局部信号比率。
7.根据权利要求6所述的方法,还包括:
针对每个读数生成所述信号比率,获取在所述读数周围的周期,以及在用所述相关系数乘以比率之前,通过最小二乘法,计算所述比率。
8.根据权利要求6到7中任一项所述的方法,还包括:
基于平均非卷积调制特征图和所述局部信号比率,估计所述局部kVp估计。
9.根据权利要求1到8中任一项所述的方法,其中,所述切换kVp计算机断层摄影扫描比相应的固定kVp计算机断层摄影扫描具有更低的剂量。
10.根据权利要求1到9中任一项所述的方法,还包括:
对所述完全采样固定kVp正弦图或所述欠采样混合kVp正弦图中的至少一个降噪。
11.根据权利要求10所述的方法,还包括:
通过平滑正弦图的较低kVp测量结果和锐化正弦图的较高kVp测量结果,对所述完全采样固定kVp正弦图或所述欠采样混合kVp正弦图中的至少一个降噪。
12.根据权利要求11所述的方法,还包括:
将在一个切换周期上平均的正弦图读数的局部噪声最小化。
13.根据权利要求10到12中任一项所述的方法,其中,由于所述平滑和锐化,针对不同kVp线积分的噪声水平基本上是相同的。
14.根据权利要求10到13中任一项所述的方法,其中,基于相应的欠采样混合kVp正弦图读数的噪声,估计在平滑和锐化之前提取的完全采样正弦图读数的噪声。
15.根据权利要求10到14中任一项所述的方法,其中,针对降噪正弦图的平均空间分辨率与对应于非降噪正弦图的平均分辨率大约相同。
16.一种系统(100),其包括:
固定正弦图提取器(120),其从欠采样混合kVp正弦图中提取完全采样固定kVp正弦图,所述欠采样混合kVp正弦图来自切换kVp计算机断层摄影扫描。
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