[发明专利]磁记录介质用玻璃基板、磁记录介质、以及磁记录介质用玻璃基板毛坯有效
申请号: | 201180052195.9 | 申请日: | 2011-10-28 |
公开(公告)号: | CN103189917A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 松本奈绪美;越阪部基延;蜂谷洋一 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G11B5/73 | 分类号: | G11B5/73;C03C3/085;C03C3/087;C03C3/095;C03C21/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 庞东成;张志楠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 介质 玻璃 以及 毛坯 | ||
1.一种磁记录介质用玻璃基板,其中,该玻璃基板含有下述玻璃:
在该玻璃中,以摩尔%表示含有
56%~75%的SiO2、
1%~11%的Al2O3、
大于0%且为4%以下的Li2O、
1%以上且小于15%的Na2O、
0%以上且小于3%的K2O,
且实质上不含有BaO;
选自由Li2O、Na2O和K2O组成的组中的碱金属氧化物的总含量为6%~15%的范围;
Li2O含量相对于Na2O含量的摩尔比(Li2O/Na2O)小于0.50;
K2O含量相对于上述碱金属氧化物的总含量的摩尔比{K2O/(Li2O+Na2O+K2O)}为0.13以下;
选自由MgO、CaO和SrO组成的组中的碱土金属氧化物的总含量为10%~30%的范围;
MgO和CaO的总含量为10%~30%的范围;
MgO和CaO的总含量相对于上述碱土金属氧化物的总含量的摩尔比{(MgO+CaO)/(MgO+CaO+SrO)}为0.86以上;
上述碱金属氧化物和碱土金属氧化物的总含量为20%~40%的范围;
MgO、CaO和Li2O的总含量相对于上述碱金属氧化物和碱土金属氧化物的总含量的摩尔比{(MgO+CaO+Li2O)/(Li2O+Na2O+K2O+MgO+CaO+SrO)为0.50以上;
选自由ZrO2、TiO2、Y2O3、La2O3、Gd2O3、Nb2O5和Ta2O5组成的组中的氧化物的总含量大于0%且为10%以下;
上述氧化物的总含量相对于Al2O3含量的摩尔比{(ZrO2+TiO2+Y2O3+La2O3+Gd2O3+Nb2O5+Ta2O5)/Al2O3}为0.40以上;
该玻璃的玻璃化转变温度为600℃以上、100℃~300℃的平均线膨胀系数为70×10-7/℃以上、且杨氏模量为80GPa以上。
2.如权利要求1所述的磁记录介质用玻璃基板,其中,该玻璃基板作为磁记录介质的基板使用,所述磁记录介质在该基板上具有含有Fe和Pt、或含有Co和Pt的磁记录层。
3.如权利要求1或2所述的磁记录介质用玻璃基板,其中,该玻璃基板作为能量辅助记录用磁记录介质的基板使用。
4.如权利要求3所述的磁记录介质用玻璃基板,其中,该玻璃基板作为热辅助记录用磁记录介质的基板使用。
5.如权利要求1~4的任一项所述的磁记录介质用玻璃基板,其中,该玻璃基板在部分或全部表面具有离子交换层。
6.如权利要求5所述的磁记录介质用玻璃基板,其中,所述离子交换层是通过离子交换而形成的,该离子交换是利用选自由Na、K、Rb和Cs组成的组中的至少一种碱金属离子进行的。
7.如权利要求1~6的任一项所述的磁记录介质用玻璃基板,其中,该玻璃基板的比弹性模量为30.0MNm/kg以上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于HOYA株式会社,未经HOYA株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201180052195.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体衬底用碱性处理液的精制方法及精制装置
- 下一篇:成像系统控制台