[发明专利]在干扰环境中检测目标对象的方法和实施所述方法的手势界面设备有效

专利信息
申请号: 201180053730.2 申请日: 2011-10-28
公开(公告)号: CN103270478B 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 布鲁诺·隆 申请(专利权)人: 快步科技有限责任公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044;G06F3/041
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 吴信刚
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 干扰 环境 检测 目标 对象 方法 实施 手势 界面 设备
【权利要求书】:

1.一种用于检测在环境中移动的一个或更多个目标对象(3)的方法,包括:

-实施至少一个测量电极(2),所述至少一个测量电极(2)与所述一个或更多个目标对象(3)电容耦合并且与存在于该环境中的一个或更多个其他干扰对象(4)电容耦合:

-对于每个测量电极,测量该测量电极(2)和所述环境之间的总电容(5、6),该总电容包括由于所述一个或更多个目标对象产生的目标电容和由于所述一个或更多个干扰对象产生的泄露电容,

-存储每个测量电极的所述总电容(5、6),

-对于每个测量电极,通过识别各个存储的总电容测量中的最小总电容测量,确定该测量电极的先前存储的总电容测量(5、6)的测量历史之内的最小值,所述总电容测量包括在一段预定持续时间期间测得的总电容,

-使所述泄漏电容(6)等于所确定的最小值,

-通过从总测量电容(5、6)中减去所述泄漏电容(6)来计算所述目标电容(5),和

-处理如此计算得到的目标电容(5),以产生所述一个或更多个目标对象的检测信息。

2.根据权利要求1所述的方法,还包括更新所述测量历史,使得所述测量历史仅保留在与具有所述预定持续时间的滑动时间窗(13)对应的一段时间内测得的总电容。

3.根据权利要求1所述的方法,其中将所述预定持续时间确定为高于所述一个或多个目标对象(3)在所述至少一个测量电极(2)附近的平均存在持续时间。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其中所述预定持续时间为一秒到十秒。

5.根据权利要求2或3所述的方法,还包括根据测量(5、6)的变化动态来调节所述预定持续时间。

6.根据权利要求2所述的方法,还包括:

-采集最新存储的测量作为持续时间低于所述滑动时间窗(13)的时间子窗,

-确定该子窗内的最小值,和

-将对应于所述子窗的测量替换为测量历史中的所述最小值。

7.根据权利要求1-3和6之一所述的方法,其中确定测量历史中的最小值包括使用最佳最小值/最大值滤波算法,具有基本上不变的计算时间。

8.根据权利要求1-3和6之一所述的方法,其中计算所述目标电容(5)包括计算所述泄漏电容(6)和所述总测量电容(5、6)的组合。

9.根据权利要求1-3和6之一所述的方法,还包括:

-在先校准,对于至少一个测量电极(2),其包括在没有所述一个或更多个目标对象的情况下通过测量所述至少一个测量电极(2)的总电容来确定初始泄漏电容,

-将该初始泄漏电容与之后确定的泄漏电容作为组合相加。

10.根据权利要求1-3和6之一所述的方法,其中,对多个测量电极(2)根据所述多个测量电极(2)不同地实施所述方法。

11.一种手势界面设备,其用于检测在存在一个或更多个干扰对象的环境中移动的一个或更多个目标对象(3),所述设备包括:

-至少一个测量电极(2),所述测量电极(2)与所述一个或更多个目标对象电容耦合并且与所述一个或更多个干扰对象电容耦合:

-电容测量电子装置,其被配置为用于在AC电压下激发所述至少一个测量电极,并且对于每个测量电极测量该测量电极(2)和所述环境之间的总电容(5、6),所述总电容包括由于所述一个或更多个目标对象产生的目标电容和由于所述干扰对象产生的泄露电容,

-数字存储器装置,其被配置为存储每个测量电极的所述总电容(5、6),

-计算资源装置,其用于

-对于每个测量电极,通过识别各个存储的总电容测量中的最小总电容测量,确定该测量电极的先前存储的总电容测量的历史测量之内的最小值,所述总电容测量包括在一段预定持续时间期间测得的总电容,

-使所述泄露电容等于所确定的最小值,

-通过从总测量电容(5、6)中减去所述泄漏电容(6)来计算所述目标电容(5),和

-处理如此计算得到的目标电容(5)以产生所述一个或更多个目标对象的检测信息。

12.根据权利要求11所述的设备,还包括含有多个测量电极(2)的基本平坦的表面(1)。

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