[发明专利]用于调整热噪声增加量阈值的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201180056628.8 申请日: 2011-09-28
公开(公告)号: CN103250366A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: Y·托克格兹;M·亚武兹;F·梅什卡蒂 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H04J11/00 分类号: H04J11/00;H04W24/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 张扬;王英
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 调整 噪声 增加量 阈值 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于管理与毫微微节点通信的设备与宏小区基站之间的上行链路干扰的方法,包括:

确定与毫微微节点通信的潜在设备处的到宏小区基站的第一路径损耗;

确定所述潜在设备处的到所述毫微微节点的第二路径损耗;以及

至少部分地基于所述第一路径损耗与所述第二路径损耗之间的差值以及所述宏小区基站处的最大干扰电平,生成针对所述毫微微节点的热噪声增加量(RoT)阈值。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,确定所述第一路径损耗的步骤包括测量从所述毫微微节点到所述宏小区基站的毫微微节点路径损耗,并且其中,确定所述第二路径损耗的步骤是基于所述毫微微节点的覆盖区域的。

3.根据权利要求1所述的方法,还包括:

测量到所述毫微微节点的毫微微节点路径损耗,其中,确定所述潜在设备处的到所述毫微微节点的所述路径损耗的步骤包括应用所述毫微微节点的覆盖区域。

4.根据权利要求1所述的方法,还包括:

从至少一个移动设备接收测量报告,所述测量报告包括从所述至少一个移动设备到所述毫微微节点的所述第一路径损耗以及从所述至少一个移动设备到所述宏小区基站的所述第二路径损耗。

5.根据权利要求1所述的方法,还包括:

从一个或多个移动设备接收一个或多个测量报告,所述一个或多个测量报告包括从所述一个或多个移动设备到所述毫微微节点的多个毫微微节点路径损耗以及从所述一个或多个移动设备到所述宏小区基站的多个宏小区路径损耗,其中,确定所述第一路径损耗的步骤是基于所述多个毫微微节点路径损耗的,并且确定所述第二路径损耗的步骤是基于所述多个宏小区路径损耗的。

6.根据权利要求1所述的方法,还包括:

部分地基于所述宏小区基站的第一本底噪声电平与所述毫微微节点的第二本底噪声电平的差值,确定所述宏小区基站处的所述最大干扰电平。

7.根据权利要求1所述的方法,还包括:

确定要向小区外干扰应用的最大反向链路(RL)衰减电平;

将所述RoT阈值映射到所述最大RL衰减电平;以及

将新的RoT阈值生成为所述RoT阈值与所述最大RL衰减电平之间的差值。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,生成所述RoT阈值的步骤还基于绝对最大RoT阈值或绝对最小RoT阈值。

9.根据权利要求1所述的方法,还包括:

向一个或多个设备指示相对于所述RoT阈值的当前RoT。

10.根据权利要求1所述的方法,还包括:

向一个或多个设备传送命令,以便部分地基于相对于所述RoT阈值的当前RoT来适配上行链路数据速率。

11.一种用于管理与毫微微节点通信的设备与宏小区基站之间的上行链路干扰的装置,包括:

至少一个处理器,其被配置为:

确定与毫微微节点通信的潜在设备处的到宏小区基站的第一路径损耗;

确定所述潜在设备处的到所述毫微微节点的第二路径损耗;以及

至少部分地基于所述第一路径损耗与所述第二路径损耗之间的差值以及所述宏小区基站处的最大干扰电平,生成针对所述毫微微节点的热噪声增加量(RoT)阈值;以及

耦合到所述至少一个处理器的存储器。

12.根据权利要求11所述的装置,其中,所述至少一个处理器部分地基于测量从所述毫微微节点到所述宏小区基站的毫微微节点路径损耗来确定所述第一路径损耗,并且所述至少一个处理器基于所述毫微微节点的覆盖区域来确定所述第二路径损耗。

13.根据权利要求11所述的装置,其中,所述至少一个处理器还被配置为:

测量到所述毫微微节点的毫微微节点路径损耗,其中,所述至少一个处理器部分地通过应用所述毫微微节点的覆盖区域来确定所述潜在设备处的到所述毫微微节点的所述路径损耗。

14.根据权利要求11所述的装置,其中,所述至少一个处理器还被配置为:

从至少一个移动设备接收测量报告,所述测量报告包括从所述至少一个移动设备到所述毫微微节点的所述第一路径损耗以及从所述至少一个移动设备到所述宏小区基站的所述第二路径损耗。

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