[发明专利]织物测量装置的诊断方法

说明书

技术领域

本发明涉及织物材料测试领域。它根据第一专利权利要求的前序部分涉及一种用于测量织物样品的至少一个参数的装置的诊断方法。此外，它根据其他专利权利要求的前序部分涉及一种操作用于测量织物样品的至少一个参数的装置的方法以及一种用于测量织物样品的至少一个参数的装置。本发明可以例如使用在纺纱机或绕线机上的清纱器中。

发明背景

用于检查织物材料的多种不同类型装置和方法是已知的。它们可以根据应用分类为两种类型，实验室测试（线下）和在生产处理期间测试（在线）。各种传感器原理应用在织物测试装置中；具体传感器的使用除了其他方面之外取决于准备优化检测的特性。经常使用的传感器原理，尤其是在纱线测试中，是电容性测试和光学测试。在后一个情况中，纱线由光源照明，并且与纱线相互作用的光由光检测器检测。可以从其确定纱线厚度或者外部材料的存在。

在织物材料的检查中的一个问题是传感器的受污染。灰尘颗粒可以从织物材料本身产生，例如甘汁、蜡或棉质磨损，和/或从外部灰尘源产生，例如油烟颗粒或者来自尿不湿的污水。受污染在许多传感器类型情况中降低测量结果。然而，光学传感器最受其影响。灰尘沉积在光学路径中的光学部件上，例如，在限制测量狭缝的窗口上，吸收测量光。传感器的灵敏度因此下降。受污染降低了测量结果，其会导致不正确的理解。

现有技术提出用于减少受污染问题的各种测量。一个这种测量是清洗传感器表面。DE10`2008`000`610A1表明不能对于严重受污染状态作出某种预测。因此，必须以预定时间间隔布置传感器的清洗程序。根据US-5,748,481A的方法将受影响的传感器的测量结果与其他传感器的测量结果进行比较，并且如果确定有偏差就输出报警信号。

从现有技术已知的其他测量是对受污染进行自动补偿。为此，US-3,309,754A公开了传感器电路，其对超过预定限度的强度变化进行补偿。因此，当相比之下在传感器信号中可以识别到错误时，由传感器的受污染导致的强度变化得到补偿。根据EP0`572`592B1，传感器信号使用于控制传感器光源的强度之目的。当相比之下由传感器的受污染导致的强度变化对传感器信号没有影响时，足够慢地执行控制以便可以识别在传感器中的错误。GB1`428`757A提出具有受织物影响的光和不受织物影响的光交替入射在相同检测器上，并且调整检测器信号的放大以便不受织物影响的信号成分保持在恒定水平。

除了受污染，还有检查织物材料的装置的不正确状态的其他原因。一个这种其他原因是，例如，装置的部件例，如在光学传感器单元中的光源的老化。另一个原因可以是这种的部件的磨损或破裂，例如，在光学传感器单元中限制测量狭缝的光学表面的磨损。

发明内容

本发明的一个目的在于提出一种用于测量织物样品的至少一个参数的装置的诊断方法，借由该方法，自动和可靠地识别所述装置的不正确状态，例如，装置的受污染程度，老化程度，或者磨损程度。因此，不需要周期性地、预防性地清洗所述装置。相比之下，在严重偏离标准的状态的情况下，例如，在严重受污染的情况中，输出警报以便可以特别地维护所述装置。这种维护可以包括，例如，清洗所述装置的严重受污染部件和/或更换所述装置的部件。

此外，提出一种操作用于测量织物样品的至少一个参数的装置的方法和在其中使用根据本发明的方法的这种装置。

这些和其他目标由根据本发明的诊断方法、根据本发明的操作方法以及根据本发明的装置实现，如在独立专利权利要求中限定。有利实施例在从属专利权利要求中提出。

在根据本发明用于测量织物样品的至少一个参数的装置的诊断方法中，所述织物样品的至少一个参数使用所述装置测量。将测量的结果与作为所测量样品的特征并且与其他这样的装置的测量不相干的期望值进行比较。从所述比较中推导出所述装置的状态。

在它例如不通过多个相同装置的相应信号的平均来形成的范围内，所述期望值与其他这种装置的测量不相干，如从US-5,748,481A已知的。首先，这具有优点，根据本发明的方法因此也用于不致力于其他相同姐妹装置的同步操作的独立装置。

其次，根据本发明的方法比根据现有技术方法更可靠，因为如果所有装置处于相似不正确状态中时后者无效。

在优选实施例中，从所述比较中推导出的状态是装置的受污染程度、老化程度或磨损程度。