[发明专利]电容器的异常检测方法及异常检测装置有效
申请号: | 201180060158.2 | 申请日: | 2011-12-13 |
公开(公告)号: | CN103261901A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 金相一;金昌铉;金广云 | 申请(专利权)人: | 斗山英维高株式会社 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02;G01R27/26 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蕴;李延虎 |
地址: | 韩国仁*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容器 异常 检测 方法 装置 | ||
1.一种电容器异常检测方法,用于在串联连接两个以上的电容器的电路中检测电容器的异常,包括:
从上述电路的两端测量上述电路的电容的测量步骤;
将所测量的上述电路的电容及测量时的电路使用时间存储在存储部的存储步骤;
基于通过多次测量而存储的上述电路的电容数据及上述电路使用时间数据而运算根据电路使用时间的电容的减少率的运算步骤;以及
对所测量的上述电路的电容与根据所运算的上述减少率预测的电容进行比较,判断构成上述电路的至少一个电容器是否发生异常的判断步骤。
2.根据权利要求1所述的电容器异常检测方法,其特征在于,
在上述判断步骤中,在所测量的上述电路的电容从根据所运算的上述减少率预测的电容超出了预先设定的范围的情况下,判断为电容器发生了异常。
3.根据权利要求1所述的电容器异常检测方法,其特征在于,
还包括异常个数推断步骤,在该异常个数推断步骤中,基于根据所运算的上述减少率预测的电容而计算构成上述电路的单位电容器的平均电容,并基于所计算的平均电容、构成上述电路的电容器的个数及所测量的上述电路的电容而推断发生了异常的电容器的个数。
4.一种电容器异常检测方法,用于在串联连接两个以上的电容器的电路中检测电容器的异常,包括:
从上述电路的两端测量上述电路的电容的测量步骤;
将通过多次测量而获得的上述电路的电容及测量时的电路使用时间存储在存储部的存储步骤;以及
判断所测量的上述电路的电容与在其之前测量并存储的上述电路的电容相比是否大预先设定的值,在判断出大的情况下,判断为构成上述电路的至少一个电容器发生了异常的判断步骤。
5.一种电容器异常检测装置,用于在串联连接两个以上的电容器的电路中检测电容器的异常,包括:
从上述电路的两端测量上述电路的电容的测量部;
存储所测量的上述电路的电容及测量时的电路使用时间的存储部;以及
对所测量的上述电路的电容与已经设定的预测电容进行比较,判断构成上述电路的至少一个电容器是否发生异常的判断部。
6.根据权利要求5所述的电容器异常检测装置,其特征在于,
上述已经设定的预测电容是在测量上述电容之前测量并存储的上述电路的电容,
上述判断部判断上述测量的上述电路的电容与上述之前测量并存储的上述电路的电容相比是否大预先设定的值,判断为上述至少一个电容器发生了异常。
7.根据权利要求5所述的电容器异常检测装置,其特征在于,
还包括运算部,该运算部基于通过多次测量而存储的上述电路的电容数据及上述电路使用时间数据而运算根据电路使用时间的电容的减少率,
上述判断部对上述测量的上述电路的电容与上述预测电容进行比较。
8.根据权利要求6所述的电容器异常检测装置,其特征在于,
还包括:
基于通过多次测量而存储的上述电路的电容数据及上述电路使用时间数据运算根据电路使用时间的电容的减少率的运算部;以及
基于根据所运算的上述减少率预测的电容而计算构成上述电路的单位电容器的平均电容,并且基于所计算的平均电容、构成上述电路的电容器的个数及所测量的上述电路的电容而推断发生了异常的电容器的个数的异常个数推断部。
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