[发明专利]用于测试具有不对称链路的互连线的电特性的方法和系统

说明书

技术领域

本发明总体涉及数字电路，尤其涉及与互连线相关联的测试系统和测试方法。

背景技术

电子设备，例如移动电话、个人计算机、个人数字助理和许多其它设备，使用处理器、存储器、输入/输出（I/O）设备和其它数字设备以便向终端用户提供这些电子设备所设计的功能。这些各种数字设备使用互连线（有时也称为“总线”或“接口”）互相连接，互连线在各种设备之间传递数据、信号和命令。

如同很多其它电子设备，一些互连线由标准规定。例如，在移动产业处理器接口联盟（MIPI）中定义了一些标准。其中一个标准被称为UniPro（Unified Protocol，统一协议），UniPro针对使用高速串行链路的芯片到芯片（chip-to-chip）的网络。UniPro被定义为解决一般的互连问题（例如错误处理、流量控制、路由或仲裁）的通用协议。UniPro旨在通过将可能来自不同供应商的具有不同功能的芯片混合和匹配来提高电话制造商的适应性，以便易于制造新设备。

对于高速串行接口，接口测试通常由两部分组成，即接口的电特性的物理层（PHY）测试和接口的协议特性的协议测试。PHY测试通常使用逻辑分析仪来进行，逻辑分析仪可以以精细的计时精度产生和捕获信号以及分析所捕获的信号是否匹配所需的特性。协议测试通常通过假设PHY工作且在测试仪侧使用增强的协议实现来进行，测试仪嵌入有可驱动被测设备（DuT）进入各种极端状况的特定协议模式。

该测试过程拆分的原因是两个测试阶段的性质是不同的。PHY测试需要电气精度和计时精度。然而，用于PHY测试的测试仪不能够处理协议交互，协议交互会是相当复杂的。协议测试需要高度交互性和产生“故障”模式以在各种极端状况中驱动DuT的能力。然而，用于协议测试的测试仪的电气精度或计时精度不足，并且假定有一工作的PHY用于原始数据传输。这些类型的接口测试可以用于各种目的，包括调试测试、一致性测试和生产测试。

目前，PHY测试使用环回来进行。由于现有的高速接口（诸如，PCI Express、HyperTransport或RapidIO）是对称的，因此这是可行的。在上下文中，对称是指链路的两个方向使用相同的一组参数，诸如通道的数量、数据传输率和编码等。由于这些现有的接口或互连线的这种对称性，因此在从测试仪到DuT的链路（上行链路）上所发送的数据可以通过使用另一方向的链路（下行链路）而流回到测试仪。

环回机制是用以测试对称使用链路的输入部分和输出部分的高速接口的简单但有效的方法。然而，近来出现了上行链路和下行链路的使用不对称的接口。这种接口的示例是在MIPI联盟[MIPI]中标准化的UniPro^SM[UniPro]和低层接口（LLI）。UniPro^SM为也在MIPI联盟中定义的D-PHY[D-PHY]物理层和M-PHY[M-PHY]物理层提供支持。LLI建立在M-PHY之上。

UniPro^SM和LLI均允许链路的不对称使用，在这个意义上，上行链路和下行链路可具有不同的静态性能（例如，不同的通道数量、不同的速度性能）。此外，即使上行链路和下行链路具有相同的静态性能，但它们可以被不同地配置（例如，不同的通道数量、不同的速度或不同的电力模式）。

当接口不对称时，环回不再能够提供足够的测试覆盖。例如，如果上行链路仅具有低速性能，而下行链路提供高速性能，则不能有效地测试该高速，这是因为不能以下行链路所需的速度来提供数据。当上行链路具有比下行链路少的通道时，也会出现类似的速度不匹配。

链路的不对称使用的另一个问题是，下行链路需要单独的配置。也就是说，其不可以像对称链路的情况那样遵循上行链路的配置。因此，DuT必须提供使其下行链路PHY单独配置（例如，电力模式）的部件，以及测试仪必须具有用于配置DuT的部件。这种PHY配置必须足够简单以可与不支持复杂的协议交互的标准逻辑分析仪一起使用。

因此，期望提供用于互连链路（例如，用于UniPro系统中的M-PHY链路）测试的方法、节点和系统。

附图说明

附图示出示例性实施方式，其中：

图1是示出根据这些示例性实施方式的借助互连线通信且可以使用链路启动协议来建立其间通信链路的两个装置的高层框图；

图2示出根据示例性实施方式的与互连线相关联的协议栈和物理层；

图3更详细地示出根据示例性实施方式的图2的协议栈内的物理适配器层。