[发明专利]用于测试发光薄膜的方法和装置

权利要求书

1. 一种用于测试发光薄膜的结构，所述结构包括：

朗伯光源，其包括：

具有输入端口和输出端口的混合室；以及

耦合到所述输入端口的光发射器；

具有输入端口的积分球；以及

测量设备；

其中在测试期间，所述发光薄膜被放置在所述混合室的输出端口和所述积分球的输入端口之间；以及

其中所述测量设备被光学地耦合到所述积分球。

2. 如权利要求1的结构，其中在测试期间，所述混合室的输出端口被与所述发光薄膜隔开小于500μm。

3. 如权利要求1的结构，其中在测试期间，所述混合室的输出端口被与所述积分球的输入端口隔开小于1mm。

4. 如权利要求1的结构，其中所述光发射器是被配置来发射蓝光的LED。

5. 如权利要求1的结构，其中在测试期间，所述发光薄膜与所述积分球的输入端口和所述混合室的输出端口中的至少一个滑动衔接。

6. 如权利要求1的结构，其中所述积分球的输入端口和所述混合室的输出端口中的至少一个是刀刃端口。

7. 如权利要求1的结构，其还包括被放置来引导发光薄膜的滚轮。

8. 如权利要求1的结构，其中所述发光薄膜包括布置在灵活材料中的荧光体。

9. 如权利要求1的结构，其中所述测量设备是分光仪和光电色度计中的一个。

10. 一种方法，包括：

靠近发光薄膜的第一表面放置朗伯光源；

靠近发光薄膜的第二表面放置积分球中的开口；

用朗伯光源照射所述薄膜的一部分；以及

测量由所述积分球从所述发光薄膜收集的光的属性。

11. 如权利要求10的方法，其中来自所述发光薄膜的光包括来自朗伯光源的、以相同波长传输通过所述发光薄膜的光和由所述发光薄膜从朗伯光源中吸收并被所述发光薄膜以不同波长发射的光。

12. 如权利要求10的方法，其还包括：在测量来自所述发光薄膜的光的属性后，响应于测量更改所述发光薄膜的一部分的属性。

13. 如权利要求12的方法，其中更改所述发光薄膜的一部分的属性包括改变所述发光薄膜中的发光材料的数量。

14. 一种用于测试发光薄膜的结构，所述结构包括：

光源；

光收集设备；以及

测量设备；

其中在测试期间，所述发光薄膜被放置在所述光源和所述光收集设备之间；以及

其中所述测量设备被光学地耦合到所述光收集设备。

15. 如权利要求14的结构，其中所述光源包括光发射器和成像光学器械，所述成像光学器械被配置来将来自所述光发射器的光聚焦在所述发光薄膜的一部分上。

16. 如权利要求14的结构，其中：

所述光收集设备包括光收集光学器械和包括孔径的测量头部；

收集光学器械被配置来将来自所述发光薄膜的一部分的光聚焦在孔径上；以及

所述测量头部被光学地耦合到所述测量设备。

17. 如权利要求14的结构，其中所述光源包括被配置来发射蓝光的LED。

18. 如权利要求14的结构，其中所述发光薄膜包括布置在灵活材料中的荧光体。