[发明专利]检测施加于认证所使用的输入部件的异物

权利要求书

1.一种用于检测安装在识别和/或认证所使用的输入部件的附近范围内的异物(F)的设备(1)，包括：

耦合器(2)，用于将振荡信号(3)供给至天线(6)的两个输入端子(4,5)以生成驻波，将具有预定电平的振荡信号(7)供给至检测装置(8)，将所述天线(6)接收到的反射信号(9)解耦至所述检测装置(8)，并且检测所供给的所述具有预定电平的振荡信号(7)和解耦的反射信号(9)之间的相位差，从而检测所述异物(F)，

其中，所述天线(6)被配置成在所述设备(1)的监视范围内具有在公差内恒定的发射特性的圆极化贴片天线。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，

设置有用于提供所述振荡信号(3)的振荡器(11)，其中所述振荡器(11)与所述耦合器(2)相耦合。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，

所述振荡器(11)是能够调谐的。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的设备，其中，

所述耦合器(2)使供给至所述天线(6)的第一输入端子(4)和/或第二输入端子(5)的振荡信号(3)的相位偏移了预定相位角、特别是90°的相位角。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的设备，其中，

所述耦合器(2)调整针对所述检测装置(8)的振荡信号(7)的衰减，以使得供给至所述检测装置(8)的振荡信号(7)的电平在公差内与所述天线(6)接收到的反射信号(9)的电平相对应。

6.根据权利要求5所述的设备，其中，

所述耦合器(2)根据所述异物(F)、特别是侧录装置的预期尺寸来设置针对所述检测装置(8)的振荡信号(7)的电平。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的设备，其中，

所述耦合器(2)将针对所述检测装置(8)的振荡信号(7)的衰减设置为2dB～8dB之间的值、优选为5dB。

8.根据权利要求2至7中任一项所述的设备，其中，

为了减少反射，使所述耦合器(2)的输入端子与所述振荡器(11)、所述天线(6)和所述检测装置(8)阻抗匹配。

9.根据权利要求1所述的设备，其中，

所述贴片天线(6)形成在相对介电性大于6即ε_r>6的基板(13)上。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的设备，其中，

所述检测装置(8)将所供给的具有预定电平的振荡信号(7)和解耦的反射信号(9)之间的叠加乘以非线性元件的特性曲线，并且根据该相乘来确定所述相位差。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的设备，其中，

所述耦合器(2)检测与要监视的服务机的一部分的尺寸相比小的异物、特别是侧录装置。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的设备，其中，

所述振荡信号(3)的频率和所述天线(6)的几何形状被配置成使得所述设备(1)的监视区域在所述天线(6)的接收灵敏度大的区域内。

13.一种输入部件，包括结构一体化的至少一个根据权利要求1至12中任一项所述的设备(1)，所述设备(1)用于检测安装在识别系统或认证系统的输入部件的附近范围内的异物(F)。

14.一种服务机，包括至少一个根据权利要求1至12中任一项所述的设备(1)，所述设备(1)用于检测安装在所述服务机的输入部件的附近范围内的异物(F)。

15.一种用于检测安装在识别和/或认证所使用的输入部件的附近范围内的异物的方法，包括以下步骤：

将振荡信号供给至天线的两个输入端子以生成驻波，其中所述天线被配置成在所述设备(1)的监视范围内具有在公差内恒定的发射特性的圆极化贴片天线(S1)；

将具有预定电平的振荡信号供给至检测装置(8)(S2);

将所述天线接收到的反射信号解耦至所述检测装置(S3)；以及

利用所述检测装置检测所供给的具有预定电平的振荡信号和解耦的反射信号之间的相位差，从而检测所述异物(S4)。