[发明专利]用于探测由辐射源发射的光子的探测装置

权利要求书

1.一种用于探测由辐射源（2）发射的光子的探测装置（6），所述探测装置（6）包括：

-信号发生单元（20），其用于在光子撞击所述探测装置（6）的同时生成指示所探测的光子的能量的探测信号，其中，所述信号发生单元（20）被配置为在光子被避免撞击所述探测装置（6）的同时生成基线信号，所述基线信号受到先前撞击所述探测装置（6）的光子影响，

-基线偏移确定单元（40），其用于确定所述探测信号的基线偏移，其中，所述基线偏移确定单元（40）被配置为根据所述基线信号来确定所述基线偏移，

-能量确定单元（30），其用于根据所述探测信号和所确定的基线偏移来确定所探测的光子的能量。

2.根据权利要求1所述的探测装置（6），其中，所述探测装置（6）被配置为与所述辐射源（2）的辐照同步，使得所述基线偏移确定单元（40）在所述辐射源（2）被避免辐照所述探测装置（6）的基线偏移确定时间间隔期间确定所述基线偏移。

3.根据权利要求2所述的探测装置（6），其中，所述探测装置（6）被配置为与所述辐射源（2）的所述辐照同步，使得所述基线偏移确定时间间隔位于帧周期的末尾。

4.根据权利要求2所述的探测装置（6），其中，所述探测装置（6）被配置为与所述辐射源（2）的所述辐照同步，使得在帧周期期间，所述基线偏移确定单元（40）在所述辐射源（2）被避免辐照所述探测装置（6）的多个基线偏移确定时间间隔期间确定所述基线偏移。

5.根据权利要求2所述的探测装置（6），其中，所述探测装置（6）被配置为与所述辐射源（2）的所述辐照同步，使得所述基线偏移测量时间间隔开始于撞击所述探测装置（6）的光子的通量超过预定义的阈值时。

6.根据权利要求1所述的探测装置（6），其中，所述能量确定单元（30）被配置为通过从所述探测信号中去除所确定的基线偏移，来关于所确定的基线偏移对能量确定进行校正。

7.根据权利要求1所述的探测装置（6），其中，所述能量确定单元（30）被配置为通过将所述探测信号与为了关于所确定的基线偏移对所述能量确定进行校正已被加上了所确定的基线偏移的一个或多个能量比较值进行比较，来确定所探测的光子的能量。

8.根据权利要求1所述的探测装置（6），其中，所述基线偏移确定单元（40）包括用于对所述基线信号进行采样以生成采样值的采样单元（41）和用于将所述采样值转换成数字值的模数转换器单元（42）。

9.根据权利要求1所述的探测装置（6），其中，所述探测装置（6）包括多个像素，每一像素包括所述信号发生单元（20）和所述基线偏移确定单元（40），其中，针对每一像素，所述基线偏移确定单元（40）包括用于对所述基线信号进行采样以生成采样值的采样单元（41），其中，所述探测装置（6）包括被分配给多个像素的所述采样单元（41）以将所述采样值顺序地转换成数字值的一模数转换器单元（42）。

10.一种用于通过探测装置（6）来探测辐射源（2）发射的光子的探测方法，所述探测方法包括：

-通过信号发生单元（20），在光子撞击所述探测装置（6）的同时生成指示所探测的光子的能量的探测信号，并且在光子被避免撞击所述探测装置（6）的同时生成基线信号，所述基线信号受到先前撞击所述探测装置（6）的光子的影响，

-通过基线偏移确定单元（40）根据所述基线信号来确定所述探测信号的基线偏移，

-通过能量确定单元（30）根据所述探测信号和所确定的基线偏移来确定所探测的光子的能量。

11.一种成像系统，所述成像系统包括：

-用于发射光子的辐射源（2），

-根据权利要求1所述的用于探测所述辐射源（2）发射的光子的探测装置（6），

-同步单元（11），其用于使所述探测装置（6）与所述辐射源（2）的辐照同步，使得所述基线偏移确定单元（40）在所述辐射源（2）被避免辐照所述探测装置（6）的基线偏移确定时间间隔期间确定所述基线偏移。