[发明专利]光泵磁强计、脑磁图仪以及MRI装置无效
申请号: | 201180064933.1 | 申请日: | 2011-11-16 |
公开(公告)号: | CN103314305A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | 高桥伸明 | 申请(专利权)人: | 住友重机械工业株式会社 |
主分类号: | G01R33/26 | 分类号: | G01R33/26;A61B5/05;A61B5/055 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 温旭;郝传鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁强计 脑磁图仪 以及 mri 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种光泵磁强计、脑磁图仪以及MRI装置。
背景技术
近年来,作为代替SQUID传感器的高灵敏度磁强计,开发出利用碱金属的光泵磁强计。光泵磁强计无需冷却功能且能够大幅度降低SQUID传感器的运转成本,从这个观点来看,希望能够适用于脑磁图仪或MRI装置等中。
在这种光泵磁强计中,激光照射于封入有碱金属的槽(cell),由此槽内的碱金属被自旋极化。并且在该状态下,通过接收透射过槽的透射激光来检测关于测定对象的磁场的检测信号。在此,使碱金属自旋极化时,需要将使碱金属气化的槽加热到规定温度以上,因此例如下述专利文献1中所记载,有时将加热器直接设置在槽中,通过使该加热器工作而加热槽。并且,有时替代加热器而设置热风发生装置,通过从该热风发生装置吹出热风来加热槽。
以往技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2009-10547号公报
然而,如上所述,在利用加热器加热槽的情况下,在槽中很难在透射激光所透射的部位设置加热器,因此有可能无法均匀加热槽,结果导致磁场测定灵敏度降低。另一方面,如上所述通过热风发生装置来加热槽的情况下,另外需要热风发生装置,因此有可能使磁强计成为大型化进而成为复杂化。另外,在该情况下,有可能从热风发生装置产生噪音,因此需要去除该噪音的结构。
发明内容
由此,本发明的课题在于提供一种能够简单地均匀加热槽的光泵磁强计、脑磁图仪以及MRI装置。
为了解决上述课题,本发明一方面所涉及的光泵磁强计为利用光泵激对测定对象的磁场进行测定的光泵磁强计,其具备有:非磁性槽,至少封入有碱金属且具有透光性及耐热性;激光照射部,将激光照射于槽,并且至少对碱金属进行光泵激;检测部,接收透射过槽的透射激光,并检测有关磁场的检测信号;以及高频电压施加部,对设置于槽的一对施加部施加高频电压,并通过介质加热对槽进行加热。
在该光泵磁强计中,通过高频电压施加部经由施加部对槽施加高频电压,从而能够通过介质加热对槽进行加热,即也能够使槽本身通过槽的介电损失而发热来加热该槽。因此,能够简单地均匀加热槽。
并且,一对施加部可包含:第1电极,在槽的一外表面,以扩展到该一外表面全域的方式被电连接;及第2电极,在槽的与一外表面对置的另一外表面,以扩展到该另一外表面全域的方式被电连接。此时,能够进一步高精度地均匀加热槽。
并且,一对施加部也可具有透光性。由此,即使在透射激光的光路上设置一对施加部的情况下,也能够抑制磁场测定的精度降低。
另外,也可具备对检测部及高频电压施加部的动作进行控制的控制部,在由检测部检测检测信号时,控制部使基于高频电压施加部的高频电压的施加停止。此时,能够抑制因高频电压施加部工作而产生的磁场等引起的不良影响波及磁场测定。
另外,也可具备以屏蔽外部磁场的方式覆盖测定对象及槽的外部磁场屏蔽部。此时,能够抑制由外部磁场引起的不良影响波及磁场测定。
并且,作为适宜地发挥上述作用效果的结构,具体地可举出如下结构,即检测部将通过激光照射部照射并透射过槽的激光作为透射激光而进行接收,并根据透射槽前后的激光的光强度变化对检测信号进行检测,或者将通过与激光照射部不同的其他激光照射部照射并透射槽的线偏振激光作为透射激光而进行接收,并根据透射槽前后的线偏振激光的偏振状态变化而对检测信号进行检测。
并且,本发明的一方面所涉及的脑磁图仪具备有上述光泵磁强计。在该本发明的脑磁图仪中,也可起到简单地均匀加热槽的上述作用效果。
并且,本发明的一方面所涉及的MRI装置具备有上述光泵磁强计。在该本发明的MRI装置中,也可起到简单地均匀加热槽的上述作用效果。
发明效果
根据本发明,能够简单地均匀加热槽。
附图说明
图1为表示本发明的一实施方式所涉及的光泵磁强计的概要结构图。
图2为表示图1的光泵磁强计的玻璃槽的概要立体图。
图3为表示图1的光泵磁强计的变形例中的玻璃槽的概要立体图。
具体实施方式
以下,参考附图,对本发明的优选实施方式进行详细说明。另外,在以下说明中,对相同或相当的要件赋予相同符号,并省略重复说明。
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