[发明专利]勾画组织损伤的方法有效
申请号: | 201180065488.0 | 申请日: | 2011-12-16 |
公开(公告)号: | CN103339653B | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | 卡瑟班·那亘提拉亚;基姆·莫里德森;拉尔斯·李斯加德·里伯 | 申请(专利权)人: | 奥胡斯大学;中日德兰大区 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人: | 郑立;田嘉嘉 |
地址: | 丹麦*** | 国省代码: | 丹麦;DK |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 勾画 组织 损伤 方法 | ||
1.一种估算生物组织中半暗带的半暗带尺寸的度量的方法,所述方法包括以下步骤:
—接收第一图像,所述第一图像包括表示空间分辨灌注参数的数据;
—接收第二图像,所述第二图像包括表示空间分辨弥散参数的数据;
—在所述第一图像上识别第一区域,所述第一区域对应于灌注损伤;
—在所述第二图像上识别第二区域,所述第二区域对应于弥散损伤;
—基于第一和第二区域估算半暗带尺寸的度量;
其中所述方法进一步包括:
—在所述灌注加权图像上应用第一图像处理方法,所述第一图像处理方法包括水平集方法;
—在所述弥散加权图像上应用第二图像处理方法,所述第二图像处理方法包括灰度形态运算。
2.根据权利要求1所述的方法,所述方法进一步包括在选自所述第一图像和所述第二图像的任一个图像上应用连通组件标记。
3.根据权利要求1所述的方法,所述方法进一步包括在选自所述第一图像和所述第二图像的任一个图像上应用形态二值重构。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述第二图像处理方法进一步包括:
—接收由所述第一图像处理方法确定的参数;
其中识别所述第二区域的步骤是基于所述参数的。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一图像处理方法包括:
—在初级第一图像上识别初级蒙片;
且其中在所述第一图像上识别第一区域的步骤接收以下作为输入:
—次级第一图像,
—所述初级蒙片;
其中所述初级和所述次级第一图像是不相似的,由于所述次级第一图像已基于动脉输入函数被处理。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一图像处理方法进一步包括应用灰度形态运算。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述第二图像处理方法进一步包括应用水平集方法。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一图像处理方法的水平集方法是Mumford-Shah分割的水平集实现。
9.根据权利要求1所述的方法,所述方法进一步包括在选自所述第一图像和所述第二图像的任一个图像上应用二值形态运算。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述二值形态运算包括选自开运算、闭运算、填充的任一项图像处理技术。
11.根据权利要求1所述的方法,所述方法进一步包括在选自所述第一图像和所述第二图像的任一个图像上识别种子点。
12.根据权利要求11所述的方法,其中识别所述种子点的步骤包括在所述图像中识别初级点,所述初级点对应于所述图像中相对于所述图像中的其他点具有更高或更低的数据值的一个点。
13.根据权利要求11或12中任一项所述的方法,其中识别所述种子点的步骤包括损伤侧性检测。
14.根据权利要求13中任一项所述的方法,其中识别所述损伤侧性的步骤包括从多个不同成像模式中为每个半球提取一个或更多个特征。
15.根据权利要求1所述的方法,其中所述方法进一步包括:
—接收表观弥散系数图像,
且其中所述第一和/或第二图像处理方法进一步包括:
—在所述表观弥散系数图像中,识别高于或低于一个阈值的表观弥散系数区域。
16.一种用于估算受测对象的半暗带的半暗带尺寸的度量的系统,所述系统包括:
—用于接收第一图像的输入,所述第一图像包括表示空间分辨灌注参数的数据;
—用于接收第二图像的输入,所述第二图像包括表示空间分辨弥散参数的数据;
—设置为在所述第一图像上识别第一区域的图像处理单元,所述第一区域对应于灌注损伤;
—设置为在所述第二图像上识别第二区域的图像处理单元,所述第二区域对应于弥散损伤;以及
—基于所述第一和第二区域估算半暗带尺寸的度量;
其中所述方法进一步包括:
—设置为在所述灌注加权图像上应用第一图像处理方法的图像处理单元,所述第一图像处理方法包括水平集方法;以及
—设置为在所述弥散加权图像上应用第二图像处理方法的图像处理单元,所述第二图像处理方法包括灰度形态运算。
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