[发明专利]用于荧光测量系统的宽带光源的声光可调滤波器(AOTF)无效
申请号: | 201180067292.5 | 申请日: | 2011-12-12 |
公开(公告)号: | CN103370651A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | F·D·尼尔森;C·L·汤姆森;W·胜;E·H·汤姆森 | 申请(专利权)人: | NKT光子学有限公司 |
主分类号: | G02F1/33 | 分类号: | G02F1/33;G02F1/35;G01N21/62;G02B5/20;G01J3/12 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇;王博 |
地址: | 丹麦*** | 国省代码: | 丹麦;DK |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 荧光 测量 系统 宽带 光源 声光 可调 滤波器 aotf | ||
1.一种荧光测量系统,包括:
a.宽带光源,被设置为提供宽带光束,
b.第一可调元件,被设置为对所述宽带光束的至少一部分进行滤波,
从而提供经滤波的光;
c.控制单元,被设置为向所述第一可调元件提供控制信号;
其中,所述第一可调元件为声光滤波器(AOTF),且提供至所述AOTF的所述控制信号为由电压控制振荡器(VCO)提供的声波RF信号,所述声波RF信号被设置为使得所述AOTF提供的带外抑制大于或等于25dB,例如大于或等于30dB,例如大于或等于35dB,例如大于或等于40dB,例如大于或等于45dB,例如大于或等于50dB,例如大于或等于55dB,例如大于或等于60dB。
2.根据权利要求1的系统,其中所述系统被设置为
a.以经所述AOTF滤波的光照射样品,以及
b.在所述AOTF提供所述带外抑制的波长区间内测量来自所述样品
的对所述照明的荧光响应。
3.根据权利要求1或2的系统,其中所述系统选自下述的组
a.荧光显微镜
b.落射荧光显微镜
c.STED显微镜
d.4pi显微镜
e.SPDM定位显微镜
f.SMI显微镜
g.垂直显像SMI显微镜
h.荧光成像和
i.荧光寿命成像显微镜(FLIM)。
4.根据权利要求2或3的系统,其中所述系统进一步包括设置为探测来自所述样品的荧光响应的光子计数器。
5.根据权利要求2-4中任一项的系统,其中所述系统被设置为测量作为时间函数的所述荧光响应。
6.根据权利要求1-5中任一项的系统,其中由多个VCO提供的多个RF控制信号被复用,从而允许AOTF在所述经滤波的光中输出多个谱线。
7.根据权利要求1-6中任一项的系统,其中所述控制单元被设置为提供的所述控制信号随时间变化,从而在所述入射的宽带光束的部分波长区间内扫描所述经滤波的光的中心波长。
8.根据权利要求1-7中任一项的系统,其中所述控制单元被设置提供的所述控制信号的振幅随时间变化,从而所述经过滤的光的光谱宽度随时间变化。
9.根据权利要求1-8中任一项的系统,其中在距照明波长大于或等于5nm、例如10nm或更多、例如15nm或更多的波长下,所述带外抑制被提供。
10.权利要求1-9中任一项系统的用途,以经所述AOTF滤波的光照射样品,以及在所述AOTF提供所述带外抑制的波长区间内测量来自所述样品的对所述照明的荧光响应。
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