[发明专利]用于使用手持测量设备来创建按需打包的装置、系统和方法

权利要求书

1.一种适于在三个维度中的每一个维度上测量一个或多个待打包物品的布置的测量装置，所述测量装置包括：

电子测量组件，其中所述电子测量组件包括：

第一端；以及

发射机构，被配置成在大致垂直于第一端的方向上引导测量元件；以及

支架，所述支架附连至电子测量组件，其中所述支架包括第一配合表面，所述第一配合表面与所述电子测量组件的第一端大致对准。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述支架是角支架。

3.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述支架包括至少第一和第二表面，所述第一和第二表面偏置成至少约90度的角。

4.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述支架包括至少两个部分，其中第一部分附连至所述电子测量组件，并且其中第二部分包括第一配合表面并且相对于所述电子测量组件偏置。

5.如权利要求4所述的测量装置，其特征在于，所述第二部分在大致平行于所述电子测量组件的第一端的方向上偏置。

6.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述支架包括双角构造。

7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述双角构造包括：

配合角，所述配合角包括第一配合表面；以及

附连角，所述附连角包括第一附连表面，所述第一附连表面被配置成附连至所述电子测量组件。

8.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述双角构造包括背靠背设置的两个角。

9.如权利要求8所述的测量装置，其特征在于，所述两个角包括大致平行的第一表面和大致平行的第二表面，并且其中所述两个角沿着所述大致平行的第二表面的至少一部分被固定在一起。

10.如权利要求9所述的测量装置，其特征在于，所述两个角至少部分地偏置一距离，所述距离在大致平行于第二表面并且大致垂直于所述两个角的第一表面的方向上延伸。

11.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述发射机构被配置成延伸或发射激光、声波或卷尺中的至少一个。

12.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述电子测量组件被配置成测量在三个正交方向上获得的维度。

13.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述电子测量组件被配置成通过向包裹制造机器发送维度信息来与包裹制造机器通信。

14.如权利要求13所述的测量装置，其特征在于，所述包裹制造机器被配置成使用从电子测量组件接收的维度信息来为所述一个或多个待打包物品设计包裹模板。

15.如权利要求14所述的测量装置，其特征在于，所述包裹制造机器被配置成基于从电子测量组件接收的维度信息从原始制造材料制造所述包裹模板。

16.如权利要求13所述的测量装置，其特征在于，所述包裹制造机器包括包裹设计引擎。

17.如权利要求16所述的测量装置，其特征在于，所述包裹设计引擎适于基于从电子测量组件接收的维度信息来设计打包模板。

18.如权利要求17所述的测量装置，其特征在于，所述包裹设计引擎被配置成基于所述一个或多个待打包物品的维度信息从多个打包模板风格中自动选择打包模板风格。

19.如权利要求18所述的测量装置，其特征在于，所述多个打包模板风格至少包括单片折叠盒模板和具有单独的顶部和底部部分的两片式盒子。

20.如权利要求16所述的测量装置，其特征在于，所述包裹设计引擎适于基于所述一个或多个待打包物品的比例来设计打包模板。

21.如权利要求13所述的测量装置，其特征在于，所述包裹制造机器包括制造系统，所述制造系统适于基于从电子测量组件接收的维度信息来为所述一个或多个待打包物品制造包裹模板。

22.如权利要求13所述的测量装置，其特征在于，所述包裹制造机器通过切割、皱折、划刻、打孔或以其它方式操纵原始制造材料来制造所述包裹模板。