[发明专利]彩色摄像元件、摄像装置及摄像程序

说明书

技术领域

本发明涉及一种彩色摄像元件、摄像装置、及摄像程序，尤其涉及一种包括相位差检测用像素的彩色摄像元件、摄像装置、及摄像程序。

背景技术

在数码相机等摄像装置所搭载的固体摄像元件中，为了提高AF（自动对焦）性能，存在将形成于固体摄像元件受光面上的多个像素中的部分像素作为相位差检测用像素的技术（例如参照专利文献1～7）。

相位差检测用像素例如如下述专利文献1～7所述，由成对的搭载有同色滤光片的相邻两个像素构成，设有与设置在普通像素的遮光膜开口相比分别较小的遮光膜开口。而且，设于成对的一个相位差检测用像素上的遮光膜开口向离开另一个相位差检测用像素的方向（例如左侧）偏心地设置，另一个相位差检测用像素的遮光膜开口向相反方向（例如右侧）偏心地设置。

在通过摄像装置进行AF动作时，从固体摄像元件的相位差检测用像素读出信号，根据遮光膜开口向右侧偏心的像素的检测信号与向左侧偏心的像素的检测信号求出焦点的偏移量，调整摄影镜头的焦点位置。

该AF动作中，相位差检测用像素越多则精度越高，但存在以下问题：在对普通的被摄体图像进行真拍摄时，相位差检测用像素的遮光膜开口狭小、灵敏度低，因此无法与普通像素一样进行处理。

因此，在从总像素读出信号并生成被摄体图像时，需要对相位差检测用像素的检测信号进行与普通像素的灵敏度同等程度的增益校正，或者将相位差检测用像素作为缺陷像素处理，利用周围的普通像素的检测信号进行插值运算校正。

专利文献1：日本特开2000-156823号公报

专利文献2：日本特开2007-155929号公报

专利文献3：日本特开2009-89144号公报

专利文献4：日本特开2009-105682号公报

专利文献5：日本特开2010-66494号公报

专利文献6：日本特开2008-312073号公报

专利文献7：日本专利第3592147号公报

发明内容

发明要解决的问题

该AF动作中，相位差检测用像素越多则精度越高，但存在如下问题：在对普通的被摄体图像进行真拍摄时，相位差检测用像素的遮光膜开口狭小、灵敏度低，因此无法与普通像素一样进行处理，因而无法过度增加相位差检测用像素。并且，在与成对的相位差检测用像素相邻的普通像素的颜色不同的情况下，有时会发生混色，使AF精度恶化。

本发明为解决上述问题而提出，其目的在于提供一种可提高相位差检测用像素的AF精度的彩色摄像元件、摄像装置、及摄像程序。

用于解决问题的方法

为解决上述问题，技术方案1所述的彩色摄像元件的特征在于，具有：摄像元件，包括排列于水平方向及垂直方向上的多个光电变换元件；滤色器，设于由上述多个光电变换元件构成的多个像素上，并重复配置有将第一排列图案和第二排列图案点对称地配置而得到的6×6像素的基本排列图案，其中所述第一排列图案中，与最有助于获得亮度信号的第一颜色对应的第一滤光片配置在3×3像素的正方排列的左上2×2像素上及右下的像素上，与不同于上述第一颜色的第二颜色对应的第二滤光片配置在上述正方排列的上述垂直方向上的中央及下端的行上，与不同于上述第一颜色及上述第二颜色的第三颜色对应的第三滤光片配置在上述正方排列的上述水平方向上的中央及右端的行上，所述第二排列图案中的上述第一滤光片的配置与上述第一排列图案相同，且将上述第一排列图案中的上述第二滤光片的配置和上述第三滤光片的配置进行了对换；及相位差检测用像素，配置在构成上述基本排列图案的两个上述第一排列图案及两个上述第二排列图案中的的两个像素所对应的位置。

根据本发明，构成为具有相位差检测用像素，配置在构成基本排列图案的两个第一排列图案及两个第二排列图案中的、至少一个第一排列图案或第二排列图案的左上的2×2像素中的两个像素所对应的位置上，因此可提高相位差检测用像素的AF精度。

如技术方案2所述，也可以是以下结构：上述相位差检测用像素配置在构成基本排列图案的两个上述第一排列图案及两个上述第二排列图案中的、至少一个上述第一排列图案或上述第二排列图案的上述2×2像素中的一个对角上的两个像素所对应的位置。

如技术方案3所述，也可以是以下结构：在上述相位差检测用像素上设置遮光单元，该遮光单元包括对该像素的部分区域进行遮光而使光透过其他区域的第一遮光膜或对该像素的一部分进行遮光而使光透过与上述第一遮光膜透过的区域成对的区域的第二遮光膜。