[发明专利]支架套件及使用所述支架套件的脑功能测量装置有效

专利信息
申请号: 201180069934.5 申请日: 2011-04-11
公开(公告)号: CN103458801A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 宇田川晴英;井上芳浩 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: A61B10/00 分类号: A61B10/00;A61B5/0478
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 日本京都府京都*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 支架 套件 使用 功能 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种支架套件,其特征在于包括:

光学生物测定支架,包含至少2个探针安装部,在所述探针安装部上插入送光探针或受光探针,并安装于受检者的头部,所述送光探针是自前端照射光,所述受光探针是自前端接收光;以及

脑波仪支架,包含至少1个电极安装部,在所述电极安装部上插入脑波测定电极,并安装于所述受检者的头部,所述脑波测定电极检测与基准电极的电位差;并且

所述光学生物测定支架包括:直线状的主干部,沿着第一方向延伸;以及至少2条直线状的分支部,沿着与所述第一方向不同的第二方向延伸;

所述脑波仪支架包括:直线状的主干部,沿着所述第一方向延伸;以及至少1条直线状的分支部,沿着与所述第二方向相反的方向延伸。

2.一种脑功能测量装置,其特征在于包括:

根据权利要求1所述的支架套件;

送光探针,对所述受检者照射光;

受光探针,接收自所述受检者放出的光;

基准电极;

脑波测定电极,对与所述基准电极的电位差进行检测;

送光及受光用控制部,以所述送光探针对头部表面照射光,并且所述受光探针对自头部表面放出的光进行检测的方式进行控制,借此获得关于所述受检者的脑活动的受光量信息;以及

电极控制部,以对所述脑波测定电极与基准电极的电位差进行检测的方式进行控制,借此获得关于所述受检者的脑活动的电位信息。

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