[发明专利]温度分布测定装置以及温度分布测定方法有效

专利信息
申请号: 201180072850.7 申请日: 2011-08-15
公开(公告)号: CN103733037A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 笠嶋丈夫;宇野和史;石锅稔;只木恭子;武井文雄 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01K11/12 分类号: G01K11/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;李洋
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 温度 分布 测定 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种温度分布测定装置,其特征在于,具有:

激光光源,其与光纤光学连接;

光检测器,其检测在所述光纤内发生后向散射的光;以及

温度分布测定部,其对从所述光检测器的输出获得的临时的测定温度分布进行使用了传递函数的修正计算来作为真的测定温度分布,

所述温度分布测定部存储有按每个所述光纤的全长以及长度方向的每个位置而设定的传递函数的数据。

2.根据权利要求1所述的温度分布测定装置,其特征在于,

若与所述激光光源连接的所述光纤的全长被变更,则所述温度分布测定部使用所述传递函数的数据来变更用于所述修正计算的传递函数。

3.根据权利要求2所述的温度分布测定装置,其特征在于,

用于所述修正计算的传递函数是通过线性近似而计算的。

4.根据权利要求1~3中任意一项所述的温度分布测定装置,其特征在于,

所述温度分布测定部对所述临时的测定温度分布使用所述传递函数的反函数来计算所述真的测定温度分布。

5.一种温度分布测定方法,是从激光光源向光纤输出激光、检测在所述光纤内发生后向散射的光而获取所述光纤的长度方向的临时的测定温度分布、对所述临时的测定温度分布进行使用了传递函数的修正计算来作为真的测定温度分布的温度分布测定装置的温度分布测定方法,其特征在于,

所述温度测定装置存储按每个所述光纤的全长以及长度方向的每个位置而设定的传递函数的数据,若与所述激光光源光学连接的光纤的长度被变更,则使用所述传递函数的数据来变更用于所述修正计算的传递函数。

6.根据权利要求5所述的温度分布测定方法,其特征在于,

用于所述修正计算的传递函数是通过线性近似而计算的。

7.根据权利要求5或者6所述的温度分布测定方法,其特征在于,

与所述激光光源光学连接的光纤在温度被维持为固定的场所中具有以固定长度以上卷绕而成的卷绕部。

8.根据权利要求5~7中任意一项所述的温度分布测定方法,其特征在于,

与所述激光光源光学连接的光纤被铺设在收纳有计算机的机架内。

9.根据权利要求5~8中任意一项所述的温度分布测定方法,其特征在于,

所述温度分布测定装置根据输入的光纤的全长以及长度方向的位置来变更用于所述修正计算的传递函数。

10.根据权利要求5~8中任意一项所述的温度分布测定方法,其特征在于,

所述温度分布测定装置根据从所述激光光源射出的激光到达所述光纤的端部为止的时间或者至未检测出所述后向散射光为止的时间来获取所述光纤的全长,并变更用于所述修正计算的传递函数。

11.根据权利要求5~10中任意一项所述的温度分布测定方法,其特征在于,

所述温度分布测定装置对所述临时的测定温度分布使用所述传递函数的反函数来计算所述真的测定温度分布。

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