[发明专利]用于设备组成部分的状态监控的装置和方法

权利要求书

1.用于确定可能导电的设备组成部分（L）、特别是技术设备的电导体的状态的装置，具有：

－与要监控的设备组成部分（L）连接的场产生装置（L），所述场产生装置在设备部分的附近产生磁场（H），

－有机磁阻OMR半导体元件（22），所述OMR半导体元件位置固定地被布置在要监控的设备组成部分（L）的附近，和

－用于产生所述OMR半导体元件的两个电极（24、26）之间的电压的电压源（28、29）。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述OMR半导体元件（22）被构造为层，所述层至少局部地包围导电的设备组成部分（L），其中所述层优选地具有空心圆柱体的形状。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其中所述OMR半导体元件（22）被布置在柔性衬底上。

4.根据上述权利要求之一所述的装置，该装置具有用于测量变量（Um）的测量装置，所述变量与流经所述OMR半导体元件的电流（I）和/或施加在所述OMR半导体元件上的电压（U）成比例。

5.根据上述权利要求之一所述的装置，其中所述电压源（28）被设计为恒定电压源。

6.根据上述权利要求之一所述的装置，其中由OMR半导体元件形成OLED（22），其中电压（U）优选地被设定到如下值（U0），在该值的情况下只有当要监控的设备组成部分满足预定的标准时OLED才发光。

7.根据权利要求3到6之一所述的装置，其中所述OMR半导体元件（22）可逆地、特别是以夹条带、搭扣带或粘合带（OLED）的形式被安置在设备组成部分上。

8.用于确定可能导电的设备组成部分（L）、特别是技术设备的电导体的状态的方法，具有下述步骤：

－在设备组成部分上产生磁场（H），

－借助有机磁阻OMR半导体元件（22）检测设备组成部分的附近的磁场（H），

－根据借助半导体元件所检测的磁场（H）设定电变量（Um）。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，进行所确定的状态的表示，在该状态中由所述OMR半导体元件形成OLED，并且所述电压（U）优选地被设定到如下值（U0），在该值的情况下只有当要监控的设备组成部分满足预定的标准时OLED才发光。