[发明专利]非平面晶体管鳍状物制造在审
申请号: | 201180073746.X | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN103843119A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | S·M·乔希;M·哈藤多夫 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈松涛;王英 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平面 晶体管 鳍状物 制造 | ||
1.一种方法,包括:
在非平面晶体管的多个晶体管鳍状物上形成共形阻挡材料层;
去除一部分所述共形阻挡材料层,以露出所述多个晶体管鳍状物中的至少一个晶体管鳍状物;
在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行离子注入;以及
去除所述共形阻挡材料层。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,形成共形阻挡层包括形成共形电介质阻挡材料层。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,形成共形电介质阻挡层包括形成共形电介质阻挡材料层。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,去除一部分所述共形阻挡材料层以露出所述多个晶体管鳍状物中的至少一个晶体管鳍状物包括:
对所述共形阻挡材料层的至少一部分上的光致抗蚀剂材料进行构图;
蚀刻没有被所述光致抗蚀剂材料覆盖的区域中的所述共形阻挡材料层;以及
去除所述光致抗蚀剂材料。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行离子注入包括在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行成角度的离子注入。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行成角度的离子注入包括在露出的所述至少一个晶体管鳍状物的相反侧壁上执行成角度的离子注入。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行离子注入包括在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行P型离子注入。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行离子注入包括在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行N型离子注入。
9.一种方法,包括:
形成具有多个晶体管鳍状物的非平面晶体管;
在所述多个晶体管鳍状物上形成共形阻挡材料层,以使得所述多个晶体管鳍状物中的至少一个晶体管鳍状物由所述共形阻挡材料层覆盖,且所述多个晶体管鳍状物中的至少一个晶体管鳍状物没有由所述共形阻挡材料层覆盖;以及
在没有由所述共形阻挡材料层覆盖的所述至少一个晶体管鳍状物上执行离子注入。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,形成所述共形阻挡材料层包括:
在多个晶体管鳍状物上沉积所述共形阻挡材料层;以及
去除一部分所述共形阻挡材料层,以露出所述多个晶体管鳍状物中的至少一个晶体管鳍状物。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,去除一部分所述共形阻挡材料层以露出所述多个晶体管鳍状物中的至少一个晶体管鳍状物包括:
对所述共形阻挡材料层的至少一部分上的光致抗蚀剂材料进行构图;以及
蚀刻没有被所述光致抗蚀剂材料覆盖的区域中的所述共形阻挡材料层。
12.根据权利要求9所述的方法,进一步包括去除所述共形阻挡材料层。
13.根据权利要求9所述的方法,其中,形成共形阻挡材料层包括形成共形电介质阻挡材料层。
14.根据权利要求9所述的方法,其中,在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行离子注入包括在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行成角度的离子注入。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行成角度的离子注入包括在露出的所述至少一个晶体管鳍状物的相反侧壁上执行成角度的离子注入。
16.根据权利要求9所述的方法,其中,在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行离子注入包括在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行P型离子注入。
17.根据权利要求9所述的方法,其中,在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行离子注入包括在露出的所述至少一个晶体管鳍状物上执行N型离子注入。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造