[发明专利]对来自含烃地层的油母质中的烃的流动建模的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201180074465.6 申请日: 2011-10-26
公开(公告)号: CN103907114A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: K·E·威廉姆斯;谢尔顿·B·戈雷尔;A·库玛尔;R·G·德斯特勒福特 申请(专利权)人: 兰德马克绘图国际公司
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00;G01V9/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 黄艳;潘培坤
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 来自 地层 油母质 中的 流动 建模 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种方法,包括:

由计算机系统对通过含烃地层的烃的流动建模,所述建模包括:

获取所述地层的一部分内的油母质的油母质湿孔隙率的指征;

获取所述地层的所述部分内的水湿孔隙率的指征;

对烃通过油母质湿孔隙结构的运动建模;以及

对烃通过水湿孔隙结构的运动建模,该通过所述水湿孔隙结构的运动不同于通过所述油母质湿孔隙结构的运动。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述对烃通过所述油母质湿孔隙结构的运动建模还包括,从包括对烃从所述油母质湿孔隙结构运动到裂缝孔隙结构中的建模,以及对烃从所述水湿孔隙结构运动到所述裂缝孔隙结构的建模的组中选择至少一个。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述获取油母质湿孔隙率的指征还包括:

获取所述地层的所述部分的有机物含量的指征;

获取所述地层的所述部分的镜质体反射率的指征;

获取所述地层的所述部分的埋藏史的指征;以及

基于所述地层的所述部分的有机物含量的所述指征、镜质体反射率的所述指征以及所述埋藏史,由计算机系统计算出所述油母质湿孔隙率。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述获取水湿孔隙率的指征还包括:

获取所述地层的所述部分的总孔隙率的指征,所述总孔隙率的指征源自对所述地层的物理测量;以及

基于所述总孔隙率的指征和所述油母质湿孔隙率,由所述计算机系统计算所述水湿孔隙率。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,获取水湿孔隙率的指征还包括:

获取所述地层的所述部分的总孔隙率的指征,所述总孔隙率的指征源自对所述地层的物理测量;

由所述计算机系统计算所述油母质湿孔隙率;

基于所述总孔隙率的指征和所述油母质湿孔隙率,由所述计算机系统计算所述水湿孔隙率。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,对通过含烃地层的烃的流动建模还包括:

由所述计算机系统计算基质孔隙率和基质渗透率,所述基质孔隙率和基质渗透率基于烃通过所述油母质湿孔隙结构的运动,并基于烃通过所述水湿孔隙结构的运动;以及然后

基于所述基质孔隙率和基质渗透率,对通过所述含烃地层的烃的流动建模。

7.根据权利要求1所述的方法,其中,对通过含烃地层的烃的流动建模还包括,由所述计算机系统计算指示从所述油母质湿孔隙结构到裂缝孔隙结构的运动的值。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,对通过含烃地层的烃的流动建模还包括,由所述计算机系统计算指示从所述水湿孔隙结构到裂缝孔隙结构的运动的值。

9.一种计算机系统,包括:

处理器;

存储器,联接到所述处理器;以及

显示设备,联接到所述处理器;

其中,所述存储器存储一程序,当由所述处理器执行时,该程序使所述处理器:

获取烃地层的一部分内的油母质的油母质湿孔隙率的指征;

获取所述烃地层的所述部分内的水湿孔隙率的指征;

模拟烃通过油母质湿孔隙结构的运动;

模拟烃通过水湿孔隙结构的运动,所模拟的通过所述水湿孔隙结构的运动不同于所模拟的通过所述油母质孔隙结构的运动;以及

在所述显示设备上显示运动的模拟的结果。

10.根据权利要求9所述的计算机系统,其中,当所述处理器获取油母质湿孔隙率的指征时,所述程序还使所述处理器:

读取所述地层的所述部分的有机物含量的指征;

读取所述地层的所述部分的镜质体反射率的指征;

读取所述地层的所述部分的埋藏史的指征;以及

基于所述地层的所述部分的有机物含量的指征、镜质体反射率的指征以及所述埋藏史,计算所述油母质孔隙率。

11.根据权利要求10所述的计算机系统,其中,当所述处理器获取水湿孔隙率的指征时,所述程序还使所述处理器:

读取所述地层的所述部分的总孔隙率的指征,所述总孔隙率的指征源自所述地层的物理测量;以及

基于所述总孔隙率的指征和所述油母质湿孔隙率,计算所述水湿孔隙率。

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