[其他]放射线检测器以及具备该检测器的放射线图像取得装置

说明书

技术领域

本发明涉及放射线检测器以及具备该检测器的放射线图像取得装置。

背景技术

一直以来，关于X射线图像的检测技术，为人所知的有：通过检测由入射到检测器的放射线产生的电荷而直接检测放射线的方式即直接变换方式、以及使用闪烁器材料等的放射线变换构件来将放射线变换成光之后用检测器进行检测的方式即间接变换方式。在这2种变换方式中存在放射线的检测能量带受限制的倾向。为了应付这样的问题而设计了如下结构，即在直接检测放射线的放射线检测元件的检测面设置由闪烁器材料构成的放射线变换膜，由放射线检测元件同时检测透过了放射线变换膜的放射线以及被放射线变换膜变换后的闪烁光（参照下述专利文献1）。根据这样的结构，能够提高放射线的检测效率并取得S/N良好的图像数据。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2000-46951号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

然而，在上述那样的现有的结构中，用同一检测器检测宽能量带的放射线，因而所得到的图像数据有产生图像模糊的倾向。其原因在于：本来比较低的能量带的放射线容易被波长变换膜变换成闪烁光，放射线检测元件检测一边变宽一边透过放射线变换膜而来的闪烁光，因而在低能量带的放射线，检测信号（S）容易减弱，另一方面，在高能量带由于变宽了的闪烁光而使相对于检测信号的噪声容易增加，宽能量带的放射线的检测信号的S/N下降。

因此，本发明有鉴于上述所涉及的技术问题而做出的，其目的在于，提供一种可以遍及宽能量带而取得模糊少的放射线检测图像的放射线检测器以及具备该放射线检测器的放射线图像取得装置。

解决技术问题的手段

为了解决上述技术问题，本发明的一个侧面所涉及的放射线检测器，具备：平面状的波长变换构件，响应于透过了对象物的放射线的入射而产生闪烁光；放射线检测元件，检测透过了波长变换构件的放射线；以及遮蔽构件，配置在波长变换构件与放射线检测元件之间，防止闪烁光向放射线检测元件的入射。

根据这样的放射线检测器，透过了对象物的放射线当中比较低能够量带的放射线被波长变换构件变换成闪烁光，该闪烁光被配置在波长变换构件的放射线的入射面侧的检测器检测，由此可以作为图像信号被检测。与此同时，透过了对象物的放射线当中比较高能量带的放射线透过波长变换构件和遮蔽构件而作为直接图像信号被放射线检测元件检测出。此时，由于通过遮蔽构件防止闪烁光向放射线检测元件的入射，因而高能量带的图像信号中的S/N提高，并且由于闪烁光在波长变换构件的入射面侧被检测，因此还能够防止低能量带的图像信号中的图像模糊。其结果，能够取得放射线的检测信号的S/N遍及宽能量带良好的图像。再有，“比较低能量带的放射线”以及“比较高能量带的放射线”是指，具有相互分离的能量带的放射线、或者具有共同的能量带的放射线。

或者，本发明的另一个侧面所涉及的放射线图像取得装置，具备：放射线源，出射放射线；平面状的波长变换构件，响应于从放射线源出射并透过了对象物的放射线的入射而产生闪烁光；摄像元件，对从波长变换构件的放射线的入射侧的面辐射的闪烁光进行摄像；放射线检测元件，检测透过波长变换构件的放射线；以及遮蔽构件，配置在波长变换构件与放射线检测元件之间，防止闪烁光向放射线检测元件的入射。

根据这样的放射线图像取得装置，透过了对象物的放射线当中比较低能够量带的放射线被波长变换构件变换成闪烁光，该闪烁光被配置在放射线的入射面侧的摄像元件检测，由此可以作为图像信号被检测。与此同时，透过了对象物的放射线当中比较高能量带的放射线透过波长变换构件和遮蔽构件而作为直接图像信号被放射线检测元件检测。此时，由于通过遮蔽构件防止闪烁光向放射线检测元件的入射，因此高能量带的图像信号中的S/N提高，并且由于闪烁光在波长变换构件的入射面侧被检测，因此还能够防止低能量带的图像信号中的图像模糊。其结果，由于分别取得在摄像元件被摄像的低能量带的放射线图像以及被放射线检测元件检测的高能量带的放射图像，因此通过对所取得的图像进行加法运算，能够取得放射线的检测信号的S/N遍及宽能量带良好的图像。另外，通过对所取得的图像进行差分，能够取得良好的能量减影（energy subtraction）图像。

发明效果

根据本发明，能够取得遍及宽能量带而模糊少的放射线检测图像。

附图说明

图1是本发明的优选的一个实施方式所涉及的放射线图像取得装置的正面图。

图2是放大图1的放射线检测器来表示的正面图。