[发明专利]一种利用高刚性薄膜应力提高压电基底性能的方法有效
申请号: | 201210001559.7 | 申请日: | 2012-01-05 |
公开(公告)号: | CN102560398A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 刘卫国;刘欢;蔡长龙;高爱华;鲍帅 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;H03H9/02 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
地址: | 710032*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 刚性 薄膜 应力 提高 压电 基底 性能 方法 | ||
【权利要求书】:
1.一种利用高刚性薄膜应力提高压电基底性能的方法,是在压电基底上沉积高刚性薄膜,采用磁控溅射镀膜方法控制高刚性薄膜应力,使压应力为5~10GPa。
2.根据权利要求1所述的一种利用高刚性薄膜应力提高压电基底性能的方法,其特征在于:所述压电基底是压电晶体。
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