[发明专利]键盘自动测试方法及应用其的键盘自动测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种键盘自动测试方法及应用其的键盘自动系统，特别是涉及一种键盘自动测试方法及应用其的键盘自动系统。

背景技术

在键盘装置的制造过程中必须经过测试以确保键盘装置可正常工作。键盘装置的测试包括对键盘装置的电路板的测试以及对完成的键盘装置进行完整的测试。这些测试是为了检查键盘上的按键在按压后是否可正常地输出扫描码。

然而，传统的键盘测试都是以手动按压键盘上的按键来测试，这样就增加了测试时间及人力成本。

发明内容

本发明涉及一种键盘自动测试方法及应用其的键盘自动系统，可自动测试键盘功能，以节省测试时间及人力成本。

根据本发明一实施例，提出一种键盘自动测试方法。该键盘自动测试方法包括以下步骤。一键盘测试单元输出一按键测试指令给一键盘控制器，按键测试指令代表一键盘的一触发件被触发；键盘控制器产生对应被触发的一对应码；以及，键盘测试单元判断对应码与被触发的对应关系是否正确。

根据本发明另一实施例，提出一种键盘自动系统。键盘自动测试系统包括一键盘控制器及一键盘测试单元。键盘测试单元输出一按键测试指令给键盘控制器，按键测试指令代表一键盘的一触发件被触发。其中，键盘控制器产生对应被触发的一对应码，键盘测试单元判断对应码与被触发的对应关系是否正确。

为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举实施例，并结合附图详细说明如下。

附图说明

图1绘示依照本发明一实施例的键盘自动测试系统的功能方块图。

图2绘示依照本发明一实施例的键盘自动测试方法的流程图。

图3绘示依照本发明另一实施例的键盘自动测试系统的功能方块图。

图4绘示依照本发明又一实施例的键盘自动测试系统的功能方块图。

附图符号说明

100：键盘自动测试系统

110：键盘控制器

111：寄存器

120：键盘测试单元

130：南桥芯片

140：基本输出输入系统

150：键盘

160：中央处理器

170：无线网络模块

180：扬声器

AP：应用程序

C1：对应码

Fn：第一按键

F11：第二按键

H：热键组合

P：单键

S1：按键测试指令

S2：键盘禁能指令

S11：第一按键测试指令

S12：第二按键测试指令

W1：无线网络热键

具体实施方式

请参照图1，其绘示依照本发明一实施例的键盘自动测试系统的功能方块图。键盘自动测试系统100包括键盘控制器110、键盘测试单元120、南桥芯片130、基本输出输入系统(Basic Input/Output System，BIOS)140及中央处理器(central processing unit，CPU)160。

中央处理器160可通过南桥芯片130与基本输出输入系统140、键盘控制器(Keyboard Controller，KBC)110及其它周边元件进行通讯。

基本输出输入系统140的程序码可载入南桥芯片130内，使键盘控制器110与键盘测试单元120形同与基本输出输入系统140通讯。

键盘测试单元120例如是集成电路，其可执行应用程序AP；或者，键盘测试单元120是一固件(Firmwave)。一实施例中，键盘测试单元120可以是独立于中央处理器160配置(但可与中央处理器160电性连接)，或者，键盘测试单元120可整合于中央处理器160中。

键盘测试单元120输出一按键测试指令S1给键盘控制器110，按键测试指令S1代表键盘150的一触发件被触发。此处的触发件包括键盘150上的按键(单键或热键组合)、开关或其它型式的触发元件，通过触发此触发件，可执行文书处理、致能/禁能无线网络模块、控制扬声器音量及控制周边元件等功能。

键盘控制器110产生对应此触发件的对应码C1。键盘测试单元120判断对应码C1与触发件的对应关系是否正确。如此一来，通过本实施例的键盘自动测试系统100，可自动完成对键盘的触发件的测试。

键盘控制器110电性连接于键盘150。键盘控制器110包括寄存器(output buffer)111，键盘控制器110所产生的数据(如对应码C1)可寄存于寄存器111内。