[发明专利]测量像素的输出电平调整方法、颜色传感器和虚拟载片装置无效

专利信息
申请号: 201210005621.X 申请日: 2012-01-10
公开(公告)号: CN102589693A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 福永康弘 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测量 像素 输出 电平 调整 方法 颜色 传感器 虚拟 装置
【权利要求书】:

1.一种测量像素的输出电平调整方法,该方法包括以下步骤:

第一步骤,从多个先前确定的试样类型候选中选择对象试样的类型;

第二步骤,基于入射在基准像素上的来自所述对象试样的光,测量基准像素的输出电平;

第三步骤,从用于调整测量像素的输出电平的电平调整参数的多个候选中,选择与在所述第一步骤中选择的所述对象试样的类型相关联的电平调整参数,所述多个候选与所述对象试样的类型相关联;

第四步骤,根据所述电平调整参数和所述基准像素的输出电平,计算所述测量像素的电平调整量;以及

第五步骤,当测量与入射在所述测量像素上的来自所述对象试样的光相对应的输出电平时,使用所述电平调整量调整输出电平。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,

提供了多个测量像素,

所述多个测量像素具有不同的分光灵敏度特性,并且

与所述多个测量像素相比,所述基准像素在全部检测波长上具有更高的灵敏度。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,

对所述输出电平的测量包括在积蓄单元中积蓄由所述测量像素输出的信号,并且测量基于与在所述积蓄单元中积蓄所述信号的积蓄时间相对应的信号量的输出电平,

所述电平调整参数是与所述测量像素检测到的光的波长相对应的系数,并且

所述电平调整量是所述积蓄时间。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,

对所述输出电平的测量包括测量基于通过放大单元放大由所述测量像素输出的信号而获得的信号的输出电平,

所述电平调整参数是与所述测量像素检测到的光的波长相对应的系数,并且

所述电平调整量是所述放大单元的增益。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,

对所述输出电平的测量包括在积蓄单元中积蓄由所述测量像素输出的信号,并且测量基于通过放大单元放大基于下述信号量的信号电平而获得的信号电平的输出电平,其中该信号量与在所述积蓄单元中积蓄信号的积蓄时间相对应,

所述电平调整参数是与所述测量像素检测到的光的波长相对应的系数,并且

所述电平调整量是所述积蓄时间和所述放大单元的增益的组。

6.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个试样的类型候选是根据所述对象试样的采取部位和所述对象试样的染色方法中的至少一方而分类的。

7.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一步骤还包括:读取用于指定所述对象试样的代码信息并且选择由所述代码信息指定的所述对象试样的类型。

8.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一步骤还包括:搜索存储器中存储的所述多个试样的类型候选并且选择所述对象试样的类型。

9.一种颜色传感器,该颜色传感器包括:

部位信息输入单元,其从多个先前确定的试样类型候选中选择对象试样的类型;

基准像素,来自所述对象试样的光入射在所述基准像素上,所述基准像素生成基准输出信号;

第一测量单元,其测量由所述基准像素生成的输出信号的输出电平;

测量像素,来自所述对象试样的光入射在所述测量像素上,所述测量像素生成与所述对象试样的光谱相对应的输出信号;

第二测量单元,其基于所述测量像素生成的输出信号,测量所述对象试样的光谱信息;

选择单元,其从用于调整所述测量像素的输出电平的电平调整参数的多个候选中,选择与由所述部位信息输入单元选择的所述对象试样的类型相关联的电平调整参数,所述多个候选与所述对象试样的类型相关联;以及

计算单元,其根据所述电平调整参数和所述基准输出电平,计算所述测量像素的电平调整量,

其中当测量所述光谱信息时,所述第二测量单元使用所述计算单元计算出的所述电平调整量,调整所述输出信号的输出电平。

10.一种包括根据权利要求9所述的颜色传感器的虚拟载片装置。

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