[发明专利]一种静电释放保护电路及包括该电路的显示装置有效
申请号: | 201210008976.4 | 申请日: | 2012-01-12 |
公开(公告)号: | CN102651366A | 公开(公告)日: | 2012-08-29 |
发明(设计)人: | 段立业;吴仲远;袁广才 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;G09G3/32 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 静电 释放 保护 电路 包括 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种静电释放保护电路及包括该电路的显示装置。
背景技术
ESD(Electro-Static Discharge,静电释放)保护电路是TFT LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶面板)以及AMOLED(Active Matrix Organic Light Emitting Diode,有源矩阵有机发光二极体)面板上的重要组成部分,它可以使显示器件免遭在生产、运输、工作过程中的静电伤害。
如图1所示的一种现有ESD保护电路,由两个二极管连接的P沟道增强型TFT14和TFT15组成。TFT14的栅极与信号线13相连、源极与信号线线13相连、漏极与高电平线11相连;TFT15的栅极与低电平线12相连、源极与低电平线12相连、漏极与信号线13相连。在正常工作时,信号线11上的电平在高电平线11上的电平和低电平线12上的电平之间,此时信号线13不会有正向电流向高电平线11和低电平线12释放,只有极微弱的反向漏电流向高电平线11和低电平线12释放。在发生ESD时,当信号线线11上有正电荷积累时,信号线13上的电位高于高电平线11上的电位,TFT14反向导通,将信号线13上的正电荷释放到高电平线11上;当信号线13上有负电荷积累时,信号线13上的电平低于低电平线12上的电平,TFT15反向导通,将信号线13上的负电荷释放到低电平线12上,以保证显示装置内部阵列不受静电伤害。
而当前正在兴起一种氧化物半导体(Oxide TFT),是一种耗尽型的电子器件。如果将Oxide TFT用于图1所示的ESD保护电路结构,则会存在严重的漏电问题。由于对于一个耗尽型的TFT来说,当其栅源极电压Vgs=0V时,TFT是已经导通的。也就是说,无论TFT漏源极两端电压为正还是负,TFT的漏源极都是导通的。正因为如此,假如采用现有的ESD保护电路结构设计面板,那么在面板正常工作时,数据(data)线和栅极(gate)线将向VGH线和VGL线漏走大量电流,以至于使面板内部不能正常工作,也可能使外部驱动电路受到损坏。
发明内容
本发明提供了一种静电释放(ESD)保护电路,可使得新兴起的Oxide TFT能够适用于TFT LCD和AMOLED面板中,提供静电释放保护。本发明提供的电路包括:第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管,其中,第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管为耗尽型薄膜晶体管;
第一薄膜晶体管的栅极与第二电平线连接,漏极与第一电平线连接,源极与信号线连接;
第二薄膜晶体管的栅极与第一电平线连接,漏极与第二电平线连接,源极与信号线连接。
本发明还提供了一种显示装置,该装置包括上述静电释放保护电路。
本发明提供的静电释放电路,当信号线上无电荷或只有正常的信号电荷时,电路中的两个薄膜晶体管处于关断或者微导通的状态,信号线上的信号正常进入阵列区的像素单元中。而当信号线上出现静电荷时,根据静电荷的极性,由相应的一条电平线控制,使得两个薄膜晶体管中的一个导通,将电荷释放到其中的一条电平线上,以消除产生的静电荷。
附图说明
图1为现有的静电保护电路结构示意图;
图2为本发明的实施例静电释放保护电路结构示意图;
图3为本发明的具体实施例静电释放保护电路结构示意图;
图4为在图1与图3所示的电路中都采用耗尽型薄膜晶体管的漏电流示意图。
具体实施方式
为了将新兴起的Oxide TFT用于静电保护,本发明结合耗尽型TFT的特点,提供了相应的静电保护电路。下面结合附图对本发明的实施例进行说明。
如图2所示,本实施例中的电路包括:第一电平线21、第二电平线22、信号线23、第一薄膜晶体管24和第二薄膜晶体管25。
第一薄膜晶体管24的栅极与第二电平线22连接,漏极与第一电平线21连接,源极与信号线23连接;第二薄膜晶体管25的栅极与第一电平线21连接,漏极与第二电平线22连接,源极与信号线23连接。根据薄膜晶体管的结构特点,其源极和漏极的结构完全相同,因此在连接薄膜晶体管的漏极和源极时,可将源漏极互换。
其中,第一薄膜晶体管24和第二薄膜晶体管25都为耗尽型薄膜晶体管。
对于N沟道耗尽型薄膜晶体管,当栅源极电压等于0时,仍导通,直至Vgs小于N沟道耗尽型薄膜晶体管的阈值Vth1时,则N沟道耗尽型薄膜晶体管关断。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的