[发明专利]测试接口电路无效

专利信息
申请号: 201210011834.3 申请日: 2012-01-16
公开(公告)号: CN103207365A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 黄秋皇 申请(专利权)人: 联咏科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 史新宏
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测试 接口 电路
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测试接口电路,且特别涉及一种源极驱动器的测试接口电路。

背景技术

随着消费性电子产品的普及化,近年来的显示器,不论是在于屏幕的尺寸,或是其显示的解析度,都持续的逐年增加中。因此,用来驱动显示器的源极驱动器的引脚的数量,也相对应的增加。

在已知技术领域中,要针对高引脚数的源极驱动器进行测试时,由于需要计算多个引脚的输出信号是否符合规格的需求,所使用的测试机台需要具备支持高引脚数的测试并快速计算多个输出信号的能力。也就是说,针对源极驱动器的多引脚特性,在进行源极驱动器的测试时,使用较为昂贵的高阶测试机台是无法避免的。除此之外,在源极驱动器的引脚数量越来越多的情况下,尽管利用高阶的测试机台,每次也仅能测试有限数量的源极驱动器。据此,在进行源极驱动器的量产测试时,总需要很长的测试时间,并进而衍生出测试成本的增加以及产能不足的问题。

发明内容

本发明提供一种测试接口电路,有效提升源极驱动器的测试速率,以降低测试成本。

在本发明的一实施例中,上述的测试接口电路适用于耦接在源极驱动器及测试机台间。测试接口包括多个测试接口模块以及逻辑运算电路。其中,各测试接口模块接收并判断源极驱动器的多个输出引脚的一对应引脚所输出的输出信号是否落于规格范围中,并藉以产生偏差信号。逻辑运算电路则是依据上述的测试接口模块所产生的偏差信号以产生偏差测试输出信号。

在本发明的一实施例中,上述的测试接口模块还包含运算源极驱动器的输出引脚的输出信号平均值的功能。

在本发明的一实施例中,上述的逻辑运算电路包括一或多个与门,彼此串接或并接于多个偏差信号输入端与偏差信号输出端之间,并藉以在偏差信号输入端接收偏差信号,并于偏差输出端输出偏差测试输出信号。

在本发明的一实施例中,上述的规格范围介于规格上限以及规格下限之间。并且,各测试接口模块是将其对应的输出引脚的输出信号分别与规格上限以及规格下限进行比较,以产生偏差信号。

在本发明的一实施例中,上述的测试接口模块包括第一比较电路、第二比较电路以及与门。第一比较电路接收并比较与各测试接口模块对应的各输出引脚的输出信号以及规格上限,藉以产生第一比较输出信号。第二比较电路接收并比较与各测试接口模块对应的各输出引脚的输出信号以及规格下限,藉以产生第二比较输出信号。与门则耦接第一及第二比较器,以依据第一及第二比较信号来产生偏差信号。

在本发明的一实施例中,上述的测试接口模块还包括开关以及保持电容。开关具有第一端耦接至各测试接口模块对应的各输出引脚。开关另具有第二端耦接至第一及第二比较电路。保持电容耦接至开关的第二端,用以保持各输出信号的电压电平。

在本发明的一实施例中,上述的测试接口模块还包括切换电容电路(switched capacitor circuit)。切换电容电路耦接于各测试接口模块对应的各输出引脚与平均信号输出端之间,用以传送对应的输出引脚的输出信号至平均信号输出端。

在本发明的一实施例中,上述的测试接口模块的平均信号输出端共同耦接至测试接口电路的一平均信号产生端。

在本发明的一实施例中,上述的各测试接口模块的切换电容电路包括第一开关、保持电容以及第二开关。第一开关的第一端耦接至各测试接口模块对应的输出引脚。保持电容则耦接至第一开关的第二端。第二开关耦接在第一开关的第二端与各测试接口模块的平均信号输出端间。

基于上述,本发明通过多个测试接口模块以判断源极驱动器的输出引脚的输出信号否落于规格范围以产生偏差信号,并通过上述的偏差信号来产生偏差测试输出信号。其中,测试接口模块被配置在源极驱动器及测试机台间,取代原本高阶测试机台方能执行的测试动作。如此一来,可以通过低阶测试机台来执行源极驱动器的测试动作,有效降低测试成本。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举实施例,并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1绘示本发明的测试接口电路100施例的示意图。

图2绘示本发明实施例的测试接口模块111的实施方式的示意图。

图3A以及3B分别绘示本发明实施例的逻辑运算电路120的实施方式的示意图。

图4绘示本发明的测试接口电路的一实施范例。

图5绘示本发明的测试接口电路的另一实施范例。

【主要元件符号说明】

100、411、421、431、511、521、531、541:测试接口电路

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