[发明专利]一种低杂散光多色仪有效
| 申请号： | 201210015681.X | 申请日： | 2012-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN102538962A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 潘建根 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 散光 多色 | ||
1.一种低杂散光多色仪，包括光学腔、入射狭缝（1）、色散系统（2）和阵列探测器（3），其特征在于，色散系统（2）中的色散元件为光栅（2-2），阵列探测器（3）的光敏面与光栅（2-2）的主截面倾斜相交。
2.根据权利要求1所述的一种低杂散光多色仪，其特征在于，所述的色散系统（2）和阵列探测器（3）之间的光路上设置滤色片，滤色片与光栅（2-2）的主截面倾斜相交。
3.根据权利要求1所述的一种低杂散光多色仪，其特征在于，所述的阵列探测器（3）的光敏面与光栅主截面的垂直面偏离2-12°。
4.根据权利要求3所述的一种低杂散光多色仪，其特征在于，经色散系统（2）分光到达阵列探测器（3）的光线，在阵列探测器（3）的光敏面上发生镜面反射而产生的反射光斑偏离多色仪光学腔内的光学器件。
5.根据权利要求1所述的一种低杂散光多色仪，其特征在于，所述的光学腔内壁安装小光阑（4）。
6.根据权利要求4所述的一种低杂散光多色仪，其特征在于，在光学腔内，所述阵列探测器（3）的反射光斑的投影平面上安装小光阑（4）。
7.根据权利要求1所述的一种低杂散光多色仪，其特征在于，所述的光学腔内壁均匀地涂上反射率较低的漫反射材料。
8.根据权利要求6所述的一种低杂散光多色仪，其特征在于，所述的光学腔内安装小光阑（4）的平面以及小光阑（4）上均匀地涂上具有一定镜面反射率的漫反射材料。
9.根据权利要求1所述的一种低杂散光多色仪，其特征在于，所述的色散元件（2-2）是凹面光栅或平面光栅。
10.根据权利要求1所述的一种低杂散光多色仪，其特征在于，所述的阵列探测器（3）是一维阵列探测器或二维阵列探测器。
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