[发明专利]快速光功率校准方法及用于快速光功率校准的装置有效
申请号: | 201210017719.7 | 申请日: | 2012-01-19 |
公开(公告)号: | CN102610996A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 林永辉;葛军华;章可循;李发明;高全川;林智;彭慧耀 | 申请(专利权)人: | 厦门优迅高速芯片有限公司 |
主分类号: | H01S5/02 | 分类号: | H01S5/02 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 张松亭 |
地址: | 361000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 快速 功率 校准 方法 用于 装置 | ||
1.快速光功率校准方法,采用校准电路连接于激光器及其背光电流回路中,读取其激光器光功率值和对应状态下所述光电流的ADC值;其特征在于:它顺序包括以下步骤:
1)区间划分:将所述ADC值范围按经验划分为至少两个相邻的区间,按其从小到大的顺序分别为第一区间、第二区间,以此类推;
2)分段采样:自所述第一区间始,在所述每一个区间内通过两点所述ADC值及其对应的所述光功率值得到该区间成比例的“ADC-光功率”对应关系;
3)校准计算:将所述对应关系进行计算,得到所述每一个区间关于所述ADC值和所述光功率值的比例函数关系式;
其中,所述分段采样和校准计算步骤循环执行直至全部所述区间处理完毕。
2.根据权利要求1所述快速光功率校准方法,其特征在于:所述区间在所述ADC值范围内被分为三个。
3.根据权利要求1所述快速光功率校准方法,其特征在于:所述第一区间取其开集中的第一采样点和第二采样点并测量其对应的所述光功率值,得到对应的第一光功率值和第二光功率值;依据所述第一和第二光功率值即得到该区间的所述ADC值与光功率值的第一比例关系;再依据此第一比例关系求解出所述第一区间与第二区间ADC分界点对应的所述第三光功率值;第二区间其开集内任取一第四采样点并测量对应的第四光功率值,从而得到所述第二区间的第二比例关系,以此类推,除了所有区间之间的分界点以外,自所述第二区间始均可只采样一点。
4.用于快速光功率校准的装置,其特征在于:它包括:
一驱动模块,可设定地驱动所述激光器工作;
一光电流回路,实时监控激光器光功率,并得到一对应光功率值的光电流值;
一电压采样回路,将所述光电流值转化为对应的一采样电压;
一A/D转换器,将所述采样电压转化为ADC值;以及
一数字处理单元,设定所述ADC值的区间,通过所述ADC值控制所述驱动模块,采集并处理所述ADC值。
5.根据权利要求4所述用于快速光功率校准的装置,其特征在于:所述数字处理单元采用DSP处理器,并且该数字处理单元与所述A/D转换器之间采用并行数据线连接。
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