[发明专利]ADC校准装置有效

专利信息
申请号: 201210018314.5 申请日: 2012-01-19
公开(公告)号: CN102647187A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 赖逢时;张秦豪;曼诺吉·M·姆哈拉;薛旭峰;林永福;翁正彦 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 北京德恒律师事务所 11306 代理人: 陆鑫;房岭梅
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: adc 校准 装置
【权利要求书】:

1.一种装置包括:

参考发生器,被配置为产生多个参考电压并且将每个参考电压发送至跟踪保持(TH)放大器和校准缓冲器;

所述TH放大器,具有与所述参考发生器连接的输入端、和与多个比较器连接的输出端;

所述校准缓冲器,具有与所述参考发生器连接的第一输入端,接收来自数字校准单元的校正电压的第二输入端、以及与所述多个比较器中的一个比较器连接的输出端;

所述比较器,被配置为通过比较所述校准缓冲器的输出和所述TH放大器的输出来产生数字值;以及

所述数字校准单元,被配置为接收所述数字值并且产生所述校正电压。

2.根据权利要求1所述的装置,进一步包括模拟多路复用器,被配置为基于参考电压校准信号选择参考电压。

3.根据权利要求1所述的装置,进一步包括数字多路复用器,被配置为基于所述参考电压校准信号选择比较器。

4.根据权利要求1所述的装置,进一步包括寄存器阵列,其中存储所述校正电压。

5.根据权利要求1所述的装置,进一步包括:

第一开关,位于所述TH放大器的输入端处,被配置为选择ADC输入信号;以及

第二开关,位于所述TH放大器的输入端处,被配置为在校准处理过程中选择参考电压。

6.一种系统包括:

模数转换器(ADC)包括:

参考发生器,被配置为接收多个校正电压并且产生多个由所述多个校正电压修正的参考电压;

跟踪保持(TH)放大器,具有接收模拟信号的输入端;

缓冲器,连接在所述TH放大器的输出端和前置放大器阵列之间;

所述前置放大器阵列,被配置为产生一组数字值;以及

编码器,连接至所述前置放大器阵列,被配置为产生数字码;以及

ADC校准装置,包括:

校准缓冲器阵列,包括多个校准缓冲器,各个校准缓冲器都具有与所述参考发生器连接的第一输入端、接收来自数字校准单元的校正电压的第二输入端、以及与所述前置放大器阵列的一个放大器连接的输出端;

所述前置放大器,被配置为通过比较校准缓冲器的输出和所述TH放大器的输出来产生数字值;以及

数字校准单元,被配置为接收所述数字值并且产生所述校正电压。

7.根据权利要求6所述的系统,进一步包括:

第一开关,位于所述TH放大器的输入端处,可控的所述第一开关被配置为选择模拟信号;以及

第二开关,位于所述TH放大器的输入端处,可控的所述第二开关被配置为从所述参考发生器中选择信号。

8.根据权利要求6所述的系统,进一步包括:

锁存器阵列,与所述前置放大器阵列连接,所述锁存器阵列被配置为锁存来自所述前置放大器阵列的所述数字值。

9.根据权利要求6所述的系统,进一步包括:

数字触发器阵列,连接在锁存器阵列和所述编码器之间。

10.一种方法,包括:

从参考发生器产生参考电压;

将所述参考电压发送至跟踪保持(TH)放大器和校准缓冲器;

比较所述TH放大器的输出和所述校准缓冲器的输出;

产生数字值;

基于来自数字校准单元的所述数字值产生校正电压;

基于所述校正电压修正所述参考电压;

该方法进一步包括:

在模数转换(ADC)过程中通过导通所述第一开关来选择模拟输入信号;并且

在ADC校准处理过程中通过关断所述第一开关并且导通第二开关来选择所述参考电压。

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