[发明专利]激光测距装置

权利要求书

1.一种激光测距装置，包括：

光源部，用于发射测距光；

物镜组，包括由凸透镜构成的前片和正片以及由凹透镜构成的负片；

光转发部，用于将所述测距光透过所述物镜组转发至测定目标；

受光部，用于接收由所述测定目标反射并透过所述物镜组返回的测距光；

其特征在于，所述正片和负片的中心具有第一通孔。

2.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述光转发部包括第一偏转部件、准直透镜和第二偏转部件；

其中，所述第一偏转部件位于所述光源部所在的光轴上并将所述光源部发射的测距光经所述准直透镜偏转至与所述物镜组同轴的第二偏转部件上，所述第二偏转部件将接收到的光经过所述第一通孔转发至所述测定目标；

所述第一通孔的内径大于所述第二偏转部件的高度。

3.根据权利要求1或2所述的激光测距装置，其特征在于，所述第一通孔的内表面被涂黑。

4.根据权利要求1所述的激光测距装置，其特征在于，所述前片的中心具有第二通孔；所述激光测距装置还包括：

平面镜座，包括固定于所述第二通孔内表面的套筒部分以及设置于套筒一端的法兰部分；

平面镜，固定于所述套筒部分内部并与所述法兰部分接触。

5.根据权利要求4所述的激光测距装置，其特征在于，所述第一通孔和第二通孔的内径大小相同。

6.根据权利要求4所述的激光测距装置，其特征在于，所述光转发部包括第一偏转部件和第二偏转部件；

其中，所述第一偏转部件位于所述光源部所在的光轴上并将所述光源部发射的测距光偏转至与所述物镜组同轴的第二偏转部件上，所述第二偏转部件将接收到的光透过所述平面镜转发至所述测定目标；

所述第一通孔的内径大于所述第二偏转部件的高度。

7.根据权利要求4-6中任一项所述的激光测距装置，其特征在于，所述平面镜表面有增透膜。

8.根据权利要求4-6中任一项所述的激光测距装置，其特征在于，所述第一通孔和第二通孔的内表面被涂黑。

9.根据权利要求4-6中任一项所述的激光测距装置，其特征在于，所述平面镜座由金属制成。

10.根据权利要求9所述的激光测距装置，其特征在于，所述平面镜座进行了表面发黑处理。