[发明专利]图像数据处理的方法和系统有效
申请号: | 201210021093.7 | 申请日: | 2006-09-21 |
公开(公告)号: | CN102621053A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | W·D·罗斯 | 申请(专利权)人: | 卢米尼克斯股份有限公司 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14;G06T7/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 姬利永 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 数据处理 方法 系统 | ||
1.一种被配置成获取和处理图像数据的系统,包括:
成像子系统,被配置成:
在不同波长带下对置于所述成像子系统内的颗粒进行成像;以及
获取与所成像颗粒的发射对应的数据;以及
存储介质,包括可由处理器执行用于以下步骤的程序指令:
存储对所述颗粒的多个图像获取的数据,其中所述多个图像的每一个对应于一不同波长带;
从所述多个图像之一选择参考图像;以及
操纵所述多个图像中不是参考图像的至少一个的坐标,使得与所述多个图像的每一个内的所述颗粒对应的斑点与所述参考图像中的斑点对准。
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述不同波长带是由具有不同发射波长的两个或更多LED创建的。
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,用于操纵所述坐标参数的所述程序指令包括用于执行坐标的垂直偏移的程序指令。
4.如权利要求3所述的系统,其特征在于,用于操纵所述坐标参数的所述程序指令包括用于执行坐标的多个垂直偏移以使非参考图像与所述参考图像的对准最大化的程序指令。
5.如权利要求4所述的系统,其特征在于,用于操纵所述坐标参数的所述程序指令包括用于存储使非参考图像与所述参考图像的对准最大化所需的偏移并且将所存储的偏移应用于附加非参考图像的程序指令。
6.如权利要求1所述的系统,其特征在于,用于操纵所述坐标参数的所述程序指令包括用于执行所述多个图像中至少一个的旋转的程序指令。
7.如权利要求1所述的系统,其特征在于,用于操纵所述坐标参数的所述程序指令包括用于以下步骤的程序指令:
将至少一个图像的坐标调节预定偏移量;
计算与不同图像内斑点对应的像素之间强度的集合误差或均方差;
使用不同的预定偏移量,将调节所述至少一个图像的坐标以及计算强度的集合误差或均方差的所述步骤重复预定迭代次数;
对于所述至少一个图像的不同已调节坐标的每一个,比较强度的集合误差或均方差的计算值;以及
保存具有与具有最小强度集合误差或均方差的一组图像对应的已调节坐标的每个图像的偏移量值。
8.如权利要求1所述的系统,其特征在于,用于操纵所述坐标参数的所述程序指令包括用于以下步骤的程序指令:
将至少一个图像的坐标调节预定偏移量;
计算不同图像内斑点的位置之间的集合误差或均方差;
使用不同的预定偏移量,将调节所述至少一个图像的坐标以及计算斑点位置的集合误差或均方差的所述步骤重复预定迭代次数;
对于所述至少一个图像的不同已调节坐标的每一个,比较斑点位置的集合误差或均方差的计算值;以及
保存具有与具有最小斑点位置的集合误差或均方差的一组图像对应的已调节坐标的每个图像的偏移量值。
9.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述存储介质还包括可由处理器执行用于以下步骤的程序指令:
判定在用于对置于所述成像子系统内的所述颗粒进行归类的一个波长带下成像的所述颗粒是否在用于对颗粒归类的不同波长带下进一步成像;
在判定所述颗粒在所述不同波长带下成像时,接受所述颗粒用于进一步评估;以及
在判定所述颗粒不在所述不同波长带下成像时,拒绝所述颗粒用于进一步评估。
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