[发明专利]X射线滤光镜和X射线数据采集系统无效

专利信息
申请号: 201210021919.X 申请日: 2012-01-31
公开(公告)号: CN103226987A 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 王薇;田毅;张建卫;朱京涛 申请(专利权)人: 上海西门子医疗器械有限公司
主分类号: G21K3/00 分类号: G21K3/00;A61B6/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201318 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 射线 滤光 数据 采集 系统
【权利要求书】:

1.一种X射线滤光镜,其特征在于,

所述滤光镜的一个表面上镀有复数层能反射X射线的反射膜,

所述滤光镜经布置使其镀有反射膜的表面与入射X射线束之间存在夹角,

所述反射膜的层厚经设计沿所述滤光镜的轴向呈梯度分布,使得不同频谱的入射X射线束经所述反射膜反射后,出射X射线束的频谱相同。

2.根据权利要求1所述的滤光镜,其特征在于,所述滤光镜经布置使出射X射线束为平行束。

3.根据权利要求1所述的滤光镜,其特征在于,所述入射X射线束是锥形束或扇形束。

4.根据权利要求1所述的滤光镜,其特征在于,所述反射膜的层厚根据如下公式来设计:

D(x)=λ2sin2(arctanhL+x)-sin2θc,]]>

其中,D(x)表示沿所述滤光镜的轴向的反射膜的层厚,θc表示所述滤光镜镀有反射膜的表面与各入射X射线束之间夹角的平均值,λ表示出射X射线束的波长,L表示X射线管焦点到所述滤光镜的轴向距离,h表示X射线管焦点到所述滤光镜的纵向距离,x表示入射X射线在所述滤光镜上的入射点与所述滤光镜中心的距离。

5.根据权利要求1所述的滤光镜,其特征在于,所述反射膜的层厚为nm量级。

6.根据权利要求1所述的滤光镜,其特征在于,所述反射膜对X射线的反射率为0.5以上。

7.根据权利要求1所述的滤光镜,其特征在于,所述反射膜的每一层包括由W材料构成的子层和由B4C材料构成的子层,这两种子层交替布置。

8.根据权利要求1所述的滤光镜,其特征在于,所述夹角为0.2°~2°。

9.一种X射线数据采集系统,其特征在于,所述系统包括一X射线源、一探测器和一如权利要求1-8中任一权利要求所述的X射线滤光镜,其中,

所述X射线源发出锥形或扇形X射线束,并入射到所述滤光镜上;

所述滤光镜经布置使其镀有反射膜的表面与入射X射线束之间存在夹角,所述入射X射线束经所述滤光镜镀有反射膜的表面反射后,反射出频谱相同的单色X射线束;

所述探测器接收所述单色X射线束。

10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,所述单色X射线束为平行束。

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