[发明专利]记录装置以及控制方法有效

专利信息
申请号: 201210022793.8 申请日: 2012-02-02
公开(公告)号: CN102632707A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 铃木新 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: B41J2/01 分类号: B41J2/01;B41J29/393
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王冉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 记录 装置 以及 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种记录装置,其特征在于,包括:

第一发光元件阵列,其中具备多个发光元件,各发光元件的光轴平行于主扫描方向;

第一受光元件阵列,其中具备与所述第一发光元件阵列中的发光元件相对应的多个受光元件;

第二发光元件阵列,其中具备多个发光元件,各发光元件的光轴平行于副扫描方向;

第二受光元件阵列,其中具备与所述第二发光元件阵列中的发光元件相对应的多个受光元件;

喷射装置,用记录头喷射规定的墨滴;以及,

位置信息检测装置,用于检测所述墨滴在副扫描方向的位置信息以及主扫描方向的位置信息,该副扫描方向的位置信息对应于所述墨滴在通过一部分所述第一发光元件阵列的光轴时所述第一受光元件阵列取得的第一输出信号,该主扫描方向的位置信息对应于所述墨滴在通过一部分所述第二发光元件阵列的光轴时所述第二受光元件阵列取得的第二输出信号。

2.根据权利要求1所述的记录装置,其特征在于,还具备:

位置信息存储装置,用于保存在没有发生记录头安装误差的理想状态下所述墨滴的副扫描方向和主扫描方向的位置信息;以及,

位置偏离检测装置,用于将所述位置信息检测装置实际检测到的所述墨滴在副扫描方向以及主扫描方向上的位置信息与所述位置信息存储装置中保存的理想状态下的墨滴在副扫描方向以及主扫描方向的位置信息进行比较,如果双方的位置信息一致,则判断所述记录头实际喷射的墨滴没有发生位置偏离,而如果双方的位置信息不一致,则判断该墨滴发生位置偏离。

3.根据权利要求2所述的记录装置,其特征在于,还具备:

时间信息检测装置,用于检测从所述记录头开始喷射所述墨滴到取得所述第一输出信号为止的第一时间信息、以及从所述记录头开始喷射所述墨滴到取得所述第二输出信号为止的第二时间信息中至少一个时间信息;以及,

时间信息存储装置,用于保存在未发生所述记录头安装误差的理想状态下用所述时间信息检测装置检测到的理想状态下的时间信息,在所述时间信息检测装置实际检测到的时间信息与所述时间信息存储装置中保存的理想状态下的时间信息不一致的情况下,即使双方的所述位置信息一致,所述位置偏离检测装置也判断所述墨滴发生位置偏离。

4.根据权利要求1~3所述的记录装置,其特征在于,所述第一发光元件阵列和所述第一受光元件阵列的设置位置与所述第二发光元件阵列和所述第二受光元件阵列的设置位置在所述记录头的高度方向上的高度不同时,在所述第一发光元件阵列和所述第二发光元件阵列的双方同时发光状态下,所述记录头喷射规定的墨滴。

5.根据权利要求1~3所述的记录装置,其特征在于,所述第一发光元件阵列和所述第一受光元件阵列的设置位置与所述第二发光元件阵列和所述第二受光元件阵列的设置位置在所述记录头的高度方向上的高度相同时,首先在所述第一发光元件阵列和所述第二发光元件阵列中一方发光的状态下,所述记录头喷射规定的墨滴,而后,在另一方发光的状态下,所述记录头喷射规定的墨滴。

6.一种用于记录装置的控制方法,该记录装置包括:第一发光元件阵列,其中具备多个发光元件,各发光元件的光轴平行于主扫描方向;第一受光元件阵列,其中具备与所述第一发光元件阵列中的发光元件相对应的多个受光元件;第二发光元件阵列,其中具备多个发光元件,各发光元件的光轴平行于副扫描方向;第二受光元件阵列,其中具备与所述第二发光元件阵列中的发光元件相对应的多个受光元件;以及,喷射装置,用记录头喷射规定的墨滴,所述控制方法的特征在于,包括:

喷射步骤,用记录头喷射规定的墨滴;以及,

位置信息检测步骤,基于所述墨滴在通过一部分所述第一发光元件阵列的光轴时所述第一受光元件阵列取得的第一输出信号以及所述墨滴在通过一部分所述第二发光元件阵列的光轴时所述第二受光元件阵列取得的第二输出信号,检测对应于该第一输出信号和该第二输出信号的所述墨滴的位置信息。

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