[发明专利]基于铌酸锂光子线的光极化分裂器无效
申请号: | 201210023243.8 | 申请日: | 2012-02-02 |
公开(公告)号: | CN102540332A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 陈明;席洁;弟寅;陈乐建;董军 | 申请(专利权)人: | 西安邮电学院 |
主分类号: | G02B6/125 | 分类号: | G02B6/125;G02B6/13;G02B6/28 |
代理公司: | 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 | 代理人: | 李郑建 |
地址: | 71002*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 铌酸锂 光子 极化 分裂 | ||
1.一种基于LN光子线的光极化分裂器,其特征在于,由铌酸锂基底、二氧化硅覆层和两条平行的铌酸锂光波导组成,其中,两条平行的铌酸锂光波导的高度均为0.73μm,波导的顶部宽度均为0.5μm;构成该极化分裂器的两条平行的光波导的轴间距Sc=0.74μm,耦合长度Lc=49.28μm。
2.如权利要求1所述的基于LN光子线的光极化分裂器,其特征在于,所述的铌酸锂基底厚度为1μm,二氧化硅覆层厚度为1.3μm。
3.权利要求1所述的基于LN光子线的光极化分裂器的制备方法,其特征在于,该方法首先制作基于绝缘体的铌酸锂样本,样本包括直接黏附在1.3微米厚的二氧化硅层上的730纳米厚的单晶LN层,二氧化硅层是经过用等离子体增强化学气相沉积法涂敷在全等的Z切铌酸锂基底的Z面,即LN薄膜与厚度为1um的LN基底有全等的晶体取向;LN薄膜的表面用化学机械抛光工艺处理后达到0.5纳米的rms粗糙度;然后将1.7μm厚和0.5μm宽的光阻条带用作刻蚀掩膜,光阻在120℃下经过1个小时的退火,接着,在Oxford Plasmalab System100内,用100W射频功率诱导地耦合成为等离子体,和70W射频功率耦合至样本表面,经60分钟氩铣蚀刻,端面抛光,即得。
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