[发明专利]一种亚铜离子选择电极及其测量亚铜离子的方法有效

专利信息
申请号: 201210024091.3 申请日: 2012-02-03
公开(公告)号: CN102590310A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 廖悦鉴;吴阳东;张素娟 申请(专利权)人: 广州科城环保科技有限公司
主分类号: G01N27/333 分类号: G01N27/333
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 陈卫
地址: 510535 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 离子 选择 电极 及其 测量 方法
【权利要求书】:

1.一种亚铜离子选择电极,其特征在于,所述亚铜离子选择电极为硫化亚铜与硫化银组成选择性敏感膜的混晶膜电极;所述硫化亚铜的质量占选择性敏感膜总质量的40~60%,所述硫化银的质量占选择性敏感膜总质量的60~40%。

2.如权利要求1所述亚铜离子选择电极,其特征在于,所述硫化银为β-Ag2S型硫化银粉末。

3.如权利要求1所述亚铜离子选择电极,其特征在于,所述硫化亚铜与硫化银组成选择性敏感膜的制备方法为:将硫化亚铜粉末与硫化银粉末在模具中进行压片得到。

4.一种利用权利要求1所述亚铜离子选择电极测量亚铜离子的方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)制备权利要求1所述亚铜离子选择电极;

(2)取Cu+标准溶液,配制若干组Cu+离子浓度在1×10-6~1×10-2mol/L的标准溶液,以2mol/L的氯化钾溶液作为离子强度调节剂,将所述亚铜离子选择电极插入标准溶液中,搅拌,静置,记录电位值,计算标准曲线;

(3)将所述亚铜离子选择电极插入待测试样溶液中,搅拌,静置,记录电位值,代入标准曲线中进行换算。

5.如权利要求4所述的测量亚铜离子的方法,其特征在于,步骤(2)或(3)中,所述搅拌为采用磁力搅拌器进行。

6.如权利要求4所述的测量亚铜离子的方法,其特征在于,步骤(2)或(3)中,搅拌的时间为2分钟。

7.如权利要求4所述的测量亚铜离子的方法,其特征在于,步骤(2)或(3)中,静置的时间为1分钟。

8.如权利要求4所述的测量亚铜离子的方法,其特征在于,步骤(3)中,所述待测试样溶液为PCB板酸性蚀刻液。

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