[发明专利]快闪存储器及快闪存储器失效存储单元检测方法

说明书

技术领域

本申请涉及集成电路技术领域，特别是涉及一种快闪存储器及快闪存储器失效存储单元检测方法。

背景技术

为了验证存储器产品的正确性，在产品出厂前会对存储器进行一连串的测试流程来判断存储器是否正常工作。随着存储器的存储容量的逐渐增加和工艺尺寸的减少，其中每个存储阵列的容量和存储器的密度也相应的增加，这就使存储器中更容易出现失效存储单元。当出现失效存储单元后，则无法对其进行正常的读写操作，因此通常的做法是，在存储器中增加若干冗余存储单元，在出厂检测时，若检测到有失效存储单元出现时，则选取冗余存储单元来替换失效存储单元，从而保证存储器的正常使用。

目前，对于存储器中是否存在失效存储单元通常是在存储器出厂检测时专门设置的失效存储单元检测过程中来进行。此种方法可以检测出一定数量的失效存储单元，但是随着存储器工艺的不断更新，存储单元失效模式也变得越来越复杂，引起存储单元失效的原因也随之增加并变得复杂，有些原因导致的存储单元失效需要经过多次的读写循环之后才能被发现。采用前述的失效存储单元检测方法往往无法检测出需要经过多次的读写循环才能发现的失效存储单元，无法得到精确的检测结果。

发明内容

本申请所要解决的技术问题是提供一种快闪存储器及快闪存储器失效存储单元检测方法，能够解决目前的快闪存储器失效存储单元检测结果精度低、无法准确的检测出失效存储单元的问题。

为了解决上述问题，本申请公开了一种快闪存储器，包括：

存储阵列和与存储阵列连接的失效检测模块；

所述失效检测模块检测存储阵列中是否存在失效存储单元，并选取冗余存储单元替换失效存储单元。

进一步地，所述失效检测模块包括：

短路检测单元，用于检测存储单元的控制栅与漏极之间是否出现短路和/或存储单元相邻位线之间是否出现短路。

进一步地，所述快闪存储器还包括：

与失效检测模块连接的启动触发模块，用于触发失效检测模块的启动。

进一步地，所述快闪存储器还包括：

信息存储模块，用于接收并存储失效检测模块发送的失效存储单元的信息；

逻辑控制模块，用于从信息存储模块中读取失效存储单元的信息；和

修复模块，用于接收并存储失效检测模块发送的替换信息，并在接收到逻辑控制模块发送的触发信号后将替换信息传递给存储阵列。

进一步地，所述触发信号为标志位信号，所述标志位信号至少包括失效存储单元的地址和一个标志位。

进一步地，所述失效存储单元的信息包括失效存储单元的地址；所述替换信息包括用于替换失效存储单元的冗余存储单元的地址。

进一步地，所述逻辑控制模块还包括：

屏蔽单元，用于屏蔽失效存储单元的位线或字线。

为了解决上述问题，本申请还公开了一种快闪存储器失效存储单元检测方法，包括以下步骤：

启动失效检测模块；

失效检测模块检测快闪存储器中是否有失效存储单元，若是，则进行下一步骤，反之，则结束检测；

选取冗余存储单元替换所述失效存储单元；

将该失效存储单元信息写入信息存储模块，将替换信息写入修复模块，在后续读写操作时，修复模块根据替换信息将针对失效存储单元的读写操作映射到与之对应的冗余存储单元。

进一步地，所述失效检测模块检测快闪存储器中是否有失效存储单元包括：

检测存储单元的控制栅与漏极之间是否出现短路，和/或相邻存储单元的位线之间是否出现短路。

进一步地，所述修复模块根据替换信息将针对失效存储单元的读写操作映射到与之对应的冗余存储单元包括：

修复模块将读写操作输入的失效存储单元地址映射为与替换信息中与该失效存储单元对应的冗余存储单元的地址。

进一步地，所述方法还包括：

屏蔽失效存储单元的位线或字线。

与现有技术相比，本申请包括以下优点：