[发明专利]多视角取像方法及其应用系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种取像方法及其应用系统，且特别涉及一种多视角取像方法及其应用系统。

背景技术

随着科技的发展，各式电子装置不断推陈出新。消费者除了重视电子装置的功能性以外，也十分注重电子装置的外观品质。根据调查，因外观品质而退货的情况，已经成为厂商的一大负担。因此产品在出货前，厂商均会对重要零组件及最终产品进行外观全检。

然而，由于电子装置的外观多为曲面或非均匀表面，容易产生反光或受光不均匀的现象。电子装置所形成光影或假象瑕疵，受限于取像角度及光源投射影响时常无法突显真正瑕疵特征。以一般2D平面静态图像检测设备无法达成此项检测工作，且目前也没有外观检查的3D表面检测设备，因此现阶段仍采用人工检查方式。

为了对电子装置进行3D表面的检查，必须在多视角进行取像。不同的视角，所产生的反光情况也随之变化，而难以掌握。因此如何在每一视角撷取到反光区域的大小符合需求的实体图像，是业界目前努力的重要目标之一。

发明内容

本发明涉及一种多视角取像方法及其应用系统，其利用动态检测与调整手段，来降低每一视角的实体图像的反光区域的尺寸特征值。

根据本发明的第一方面，提出一种多视角取像方法。多视角取像方法包括以下步骤。在一取像角度以一图像撷取单元对一待取像物撷取一实体图像。以一检测单元检测实体图像的一反光区域，并分析反光区域的一尺寸特征值。判断反光区域的尺寸特征值是否大于一第一预定值。当反光区域的尺寸特征值大于第一预定值，则以一第一调整幅度调整取像角度。其中，在以第一调整幅度调整取像角度的步骤之后，还重新执行撷取实体图像的步骤。

根据本发明的第二方面，提出一种多视角取像系统。多视角取像系统包括一图像撷取单元、一检测单元、一判断单元及一调整单元。图像撷取单元用以在一取像角度对一待取像物撷取一实体图像。检测单元用以检测实体图像的一反光区域，并分析反光区域的一尺寸特征值。判断单元用以判断反光区域的尺寸特征值是否大于一第一预定值。当反光区域的尺寸特征值大于第一预定值，则调整单元以一第一调整幅度调整取像角度。其中，调整单元以第一调整幅度调整取像角度之后，图像撷取单元还重新撷取实体图像。

为了对本发明的上述及其他方面更了解，下文特举实施例，并配合附图，作详细说明如下：

附图说明

图1绘示本实施例的多视角取像系统的示意图。

图2绘示本实施例的多视角取像方法的流程图。

图3绘示另一实施例的多视角取像方法的流程图。

图4绘示图2的步骤S120的一实施例的示意图。

图5绘示图2的步骤S120的另一实施例的示意图。

图6绘示另一实施例的多视角取像系统的示意图。

【主要元件符号说明】

100、500：多视角取像系统

110：图像撷取单元

120、520：检测单元

121：对数转换单元

122：高斯滤波单元

123：指数转换单元

124、523：差异分析单元

125、525：特征分析单元

1251：像素值筛选单元

1253、5253：物件化单元

1254、5254：第一区域筛选单元

1255、5255：第二区域筛选单元

1256、5256：第三区域筛选单元

127、527：几何分析单元

130：判断单元

140：调整单元

170：存储单元

521：提供单元

522：对准单元

5251：第一像素值筛选单元

5252：第二像素值筛选单元

900：待取像物

DX、L：长度

I0：实体图像

I1：对数图像

I2：滤波图像

I3：指数图像

I4：残差图像

I5：比对图像

I6：对准图像

I7：差异图像

R：半径

S：半球型表面

S110～S190、S121～S125、S1251、S1253～S1256、S127、S521～S523、S525、S5251～S5256、S527：流程步骤

P：平台

θ：取像角度

具体实施方式

第一实施例