[发明专利]一种老化测试治具

说明书

技术领域

本发明涉及老化测试技术领域，具体的涉及一种老化测试治具。

背景技术

随着社会的发展，人们对电子产品的质量要求是越来越高，为了提高电子产品的出厂质量，在出厂前需要对电子产品进行一系列的老化测试。现有技术中，对电子产品进行老化测试时，采用对电子产品进行单个电连接测试，然而这种单个产品测试的方式效率很低；另一方面，电子产品的老化测试时，往往需要进行如光照老化、湿热老化等多个项目的老化测试，则电子产品的接口需要与不同的测试设备进行电连接，在测试项目转换时，电子产品的接口需要多次插拔，导致接口磨损大，从而影响了电子产品的使用寿命。

为了解决上述技术问题，中国发明专利（专利号：201120161188.X）公开了一种老化测试治具，其技术方案包括有基座、信号接口装置、产品固定座和电接触板，电接触板设置有多个AC信号接口组，AC信号接口组与信号接口装置电连接，当电接触板滑动到与产品固定座的端面贴合时，AC信号接口组与产品固定座上的电子产品安装孔相对应且AC信号接口组位于电子产品安装孔上方。虽然，该治具可同时进行多个电子产品的老化测试，将信号接口装置与测试设备电连接后进行老化测试，可避免由于多次拔插而对电子产品接口的磨损。然而，其缺陷在于：一方面，操作时，需要先将电接触板移动至与产品固定座的端面贴合的位置处，然后将电接触板固定住，使电接触板上的电接触端组与电子产品的接口电连接，然后将信号接口装置与测试设备电连接，方能完成电子产品的一项老化测试。该过程操作繁琐 ，而且使用过程中，电接触板反复前后滑动容易受损，造成接触不良或定位不准确，从而降低了老化测试效率；另一方面，对电子产品进行老化测试前，该治具仍需要连接电子负载，而且治具的结构复杂，不利于生产加工。

发明内容

本发明的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种结构简单、老化测试效率高、操作简单快速、性能稳定的老化测试治具。

本发明的目的通过以下技术方案实现：

提供一种老化测试治具，包括有底座和设置于底座上方的上盖，所述底座设置有底座PCB板，所述底座PCB板设置有DC信号连接装置，所述底座与所述上盖相对的内表面开设有产品放置槽，所述产品放置槽内设置有DC信号接口，所述DC信号接口通过所述底座PCB板与所述DC信号连接装置电连接；

所述上盖内设置有上盖PCB板，所述上盖PCB板设置有AC信号连接装置和与所述AC信号连接装置电连接的AC信号接口。

优选的，所述底座的一侧开设有DC安装槽，所述DC信号接口装置与所述DC安装槽相配合且安装于所述DC安装槽内；

所述上盖的一侧开设有AC安装槽，所述AC信号接口装置与所述AC安装槽相配合且安装于所述AC安装槽内。

优选的，所述上盖与所述底座相对的内表面开设有插孔，所述AC信号接口设置于所述插孔内。

优选的，所述底座与所述上盖铰接。

进一步的，所述上盖的内表面设置有第一固定座，所述第一固定座设置有铰链，所述底座的内表面设置有第二固定座，所述第二固定座开设有穿孔，所述铰链轴穿设于所述穿孔。

另一优选的，所述老化测试治具还包括有锁扣装置，所述锁扣装置包括有固定于所述底座的第一支座、固定于所述上盖的第二支座、以及锁扣臂，所述锁扣臂的一端卡接于所述第一支座，所述锁扣臂的另一端铰接于所述第二支座。

进一步的，所述锁扣臂呈倒L形，所述锁扣臂的弯折部设置有铰接轴，所述铰接轴与所述第二支座铰接，所述铰接轴套设有扭簧；

所述第一支座开设有卡槽，所述锁扣臂的一端设置有与所述卡槽相匹配的卡凸。

另一优选的，所述老化测试治具还包括有负载装置，所述负载装置包括有壳体、基座、以及设置于基座的负载DC信号连接装置和负载AC信号连接装置，所述基座下方设置有电源、时序板和电子负载，所述壳体的底部设置有导电铜板；

所述底座设置于所述负载装置的基座，所述DC信号连接装置和所述负载DC信号连接装置电连接，所述AC信号连接装置和所述负载AC信号连接装置电连接。

进一步的，所述DC信号连接装置、所述AC信号连接装置、所述负载DC信号连接装置以及所述负载AC信号连接装置均设置有两个。

进一步的，所述老化测试治具的底座和上盖均设置有定位柱，所述负载装置设置有与所述定位柱相配合的定位孔。