[发明专利]一种永磁与交直流复合的漏磁检测方法有效
申请号: | 201210032485.3 | 申请日: | 2012-02-14 |
公开(公告)号: | CN102590328A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 吴德会;孙宝康;张海荣;张志杰 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | G01N27/83 | 分类号: | G01N27/83 |
代理公司: | 厦门南强之路专利事务所 35200 | 代理人: | 马应森 |
地址: | 361005 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 永磁 直流 复合 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种管道的漏磁检测方法,尤其是涉及一种永磁与交直流复合的漏磁检测方法。
背景技术
目前的管道检测使用的方法一般有漏磁检测、超声检测、远场涡流检测、射线检测等。其中,漏磁检测是当前无损检测领域最常用的方法之一,它适用于各种铁磁性材料构件(如钢轨、钢管、钢丝绳、罐体等)表面以及内部缺陷的检测,因此得到了深入的发展和广泛的应用。但在区分内、外表面缺陷的漏磁检测问题上,国内外的研究均比较鲜见。国内主要是引进进口设备,它是采用滤波的方法来分离内、外表面信号,其检测原理是:当缺陷发生在内表面时,漏磁场信号比较尖锐,高频成分偏多;当缺陷发生在外表面时,由于外层铁磁层的均化和平滑,泄漏到内表面的漏磁场信号变得相对平缓,主频成分会向低频端偏移。利用一定带宽的高通和低通滤波器就可以分离出内、外表面缺陷引起的漏磁信号。但是该方法效果不理想,容易受到检测速度的影响,准确率只能达到50%左右。
中国专利CN101216460A《基于交直流复合磁化的漏磁检测内外壁缺陷的识别方法》公开了一种识别内外壁缺陷的方法,它利用交流磁化深度浅和直流磁化深度深的特点,用复合的交直流磁化场来进行漏磁检测,根据缺陷漏磁信号中的交流分量信息来对识别内外壁缺陷。该方法充分利用了交流磁化适于检测浅缺陷的特点,能够有效地检测内表面的缺陷。但是该方法需要对检测到的漏磁场信号进行二次处理,才能得到直流、交流分量的漏磁场数据,这就降低了信噪比,并增加了检测的复杂性和测量误差。同时,为了产生足够大的磁化场,其磁化器往往较大,且需要较大的激励信号。
发明内容
本发明的目的在于为了解决上述存在的问题,提供一种可分时进行永磁与交直流复合磁化,实现内、外表面缺陷的漏磁场检测在时间上的分离,以此达到识别内、外表面缺陷的功能,而且具有检测精度高、原理简单、操作方便等优点,可应用于钢管、罐体、钢板等的检测的永磁与交直流复合的漏磁检测方法。
本发明包括以下步骤:
1)将磁化器置于待测铁磁体表面,并按设定的提离值对待测铁磁体进行扫描检测,所述磁化器由绕有激励线圈的U型磁芯和永磁铁组成;
2)往激励线圈施加直流激励信号,在永磁铁和激励线圈的共同作用下,将待测铁磁体局部磁化至饱和状态,这时在待测铁磁体内、外表面的缺陷处将产生漏磁场;
3)利用检测元件以设定的提离值对步骤2)所述漏磁场进行检测,并将检测到的漏磁场信号B1与设定的阈值λ1进行比较,以判断待测铁磁体是否存在缺陷,若B1<λ1,说明待测铁磁体不存在缺陷,则继续步骤2)的检测;若B1>λ1,说明待测铁磁体存在缺陷,则进行下一步骤的检测;
4)退除直流激励信号,往激励线圈施加交流激励信号,这时在永磁铁和激励线圈的共同作用下,磁化器将产生一交变磁化场,在交变磁化场的激励下,待测铁磁体内表面的缺陷处将激发出交变漏磁场,而待测铁磁体外表面的缺陷处的磁场达不到饱和,即不会产生漏磁场;
5)用检测元件对步骤4)所述漏磁场进行检测,并对检测到的交变漏磁场信号进行处理,得到漏磁场信号中交流部分频率分量的幅值B2,将B2与设定的阈值λ2进行比较,以判断缺陷在待测铁磁体的内表面还是外表面,若B2<λ2,说明缺陷在待测部件的外表面,则继续重复步骤2)的检测;若B2>λ2,说明缺陷在待测铁磁体的内表面,则继续重复步骤(4)的检测。
在步骤1)中,所述激励线圈可绕于U型磁芯两侧,并且两侧的激励线圈匝数相等、缠绕方向相反;所述提离值可为0.5~2mm。
在步骤2)中,所述待测铁磁体局部磁化至饱和状态的80%。
在步骤3)中,所述检测元件可采用霍尔元件等。
在步骤4)中,所述交流激励信号的频率可为1~20KHz。
在步骤5)中,所述交变漏磁场信号处理的具体方法可为:
(1)利用数据采集电路对漏磁场信号进行采样,所述数据采集电路可采用数据采集卡等;
(2)运用时频变换算法将采样得到的时域信号转化为频域信号,所述时频变换算法可采用快速傅里叶变换等;
(3)求出频谱信号中交流频率相对应的幅值B2。
所述激励线圈的激励信号为分时的直流、交流信号。
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