[发明专利]沟槽肖特基势垒二极管及其制造方法无效
申请号: | 201210034112.X | 申请日: | 2012-02-15 |
公开(公告)号: | CN103258861A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 黄宗义;黄建豪 | 申请(专利权)人: | 立锜科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/06;H01L21/329 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陈肖梅;谢丽娜 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 沟槽 肖特基势垒二极管 及其 制造 方法 | ||
1.一种沟槽肖特基势垒二极管形成于一第一导电型基板中,其特征在于,包含:
一第二导电型外延层,形成于该基板上;
多个平台,由该外延层一上表面向下蚀刻多个沟槽所定义,且该多个平台共同连接于该外延层;
一场极板,形成于该外延层上,并填充于该多个沟槽中,其中,该场极板与该多个平台的侧壁与底部间,由一介电层隔开,而该场极板与该多个平台的顶部间,形成肖特基接触;
一终止区,形成于该多个平台的一边缘外侧的该外延层上表面下,与该场极板电连接,且该终止区与该边缘及该外延层间,由该介电层隔开;
一场绝缘层,形成于该外延层上表面上,位于该终止区外侧;以及
至少一缓和极板,形成于该终止区外侧的该外延层上表面下,并穿越过该场绝缘层与该场极板电连接,且该缓和极板与该终止区之间,由该介电层与部分该外延层隔开。
2.如权利要求1所述的沟槽肖特基势垒二极管,其中,该第一导电型为P型,且第二导电型为N型。
3.如权利要求2所述的槽肖特基势垒二极管,其中,该场极板包括:
一具有P型杂质掺杂的多晶硅层,填充于该外延层上表面下的该多个沟槽中;
一肖特基势垒金属层,形成于该外延层上表面上,与该多晶硅层电连接,并与该多个平台的顶部形成肖特基接触;以及
一金属层,形成于该肖特基势垒金属层上,并与该肖特基势垒金属层电连接。
4.如权利要求1所述的沟槽肖特基势垒二极管,其中,该场极板包括:
一肖特基势垒金属层,填充于该多个沟槽中与该多个平台顶部上,并与该多个平台顶部形成肖特基接触;以及
一金属层,形成于该肖特基势垒金属层上,并与该肖特基势垒金属层电连接。
5.一种沟槽肖特基势垒二极管制造方法,其特征在于,包含:
提供一第一导电型基板;
形成一第二导电型外延层于该基板上;
由该外延层一上表面向下蚀刻,形成多个沟槽,以定义多个平台,其中该多个平台共同连接于该外延层;
以导电材料填充于该多个沟槽中以及该外延层上,以形成一场极板,其中,该场极板与该多个平台的侧壁与底部间,由一介电层隔开,而该场极板与该多个平台的顶部间,形成肖特基接触;
形成一终止区于该多个平台的一边缘外侧的该外延层上表面下,与该场极板电连接,且该终止区与该边缘及该外延层间,由该介电层隔开;
于该终止区外侧形成一场绝缘层于该外延层上表面上;以及
于该终止区外侧的该外延层上表面下形成至少一缓和极板,穿越过该场绝缘层与该场极板电连接,且该缓和极板与该终止区之间,由该介电层与部分该外延层隔开。
6.如权利要求5所述的沟槽肖特基势垒二极管制造方法,其中,该第一导电型为P型,且第二导电型为N型。
7.如权利要求6所述的沟槽肖特基势垒二极管制造方法,其中,形成该场极板的步骤包括:
填充一具有P型杂质掺杂的多晶硅层于该外延层上表面下的该多个沟槽中;
形成一肖特基势垒金属层于该外延层上表面上,与该多晶硅层电连接,并与该多个平台的顶部形成肖特基接触;以及
形成一金属层于该肖特基势垒金属层上,并与该肖特基势垒金属层电连接。
8.如权利要求5所述的沟槽肖特基势垒二极管制造方法,其中,形成该场极板的步骤包括:
填充一肖特基势垒金属层于该多个沟槽中与该多个平台顶部上,并与该多个平台顶部形成肖特基接触;以及
形成一金属层于该肖特基势垒金属层上,并与该肖特基势垒金属层电连接。
9.如权利要求7所述的沟槽肖特基势垒二极管制造方法,其中,还包含:
形成该介电层于该外延层上表面上、该多个平台侧壁、该多个平台底部、与该多个平台顶部上;以及
将该外延层上表面上与该多个平台顶部上的该介电层移除。
10.如权利要求8所述的沟槽肖特基势垒二极管制造方法,其中,还包含:
形成该介电层于该外延层上表面上、该多个平台侧壁、该多个平台底部、与该多个平台顶部上;以及
将该外延层上表面上与该多个平台顶部上的该介电层移除。
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