[发明专利]多点触屏自动测试装置

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种自动测试装置，特别是涉及一种多点触屏自动测试装置。

【背景技术】

随着科技日新月异的发展，触屏显示器越来越广泛地被人们日常生活应用，也越来越受到人们的青睐。同时，多点触屏技术也在当下非常流行。

对于多点触屏功能的实现，依赖于多pin(引脚)的控制，测试和分析时需要检查每组的状况，以确认每组。请结合参阅图1、图2，图1绘示为一种多点触屏的结构示意图、图2绘示为图1中各引脚与信号触点的对照表。需要对图1中多多点触屏10所划分的网格矩阵11做每一行和每一列的测试，以图中14行、16列为例，则需要做30次测试，以确定每一行和每一列所形成的组是断路还是正常。以其中第一列为例，则需要测试YU01信号触点12与YD01信号触点12所形成的回路是否正常，而对应的引脚即为第21引脚和第22引脚。

在进行生产测试时，通常需要线测等价格昂贵的设备进行验证；而在进行分析时，通常状况需要使用万用表对网格矩阵11进行确认，由于pin较密集，很难准确触碰。

有鉴于此，实有必要开发一种多点触屏自动测试装置，以解决上述问题。

【发明内容】

因此，本发明的目的是提供一种多点触屏自动测试装置，从而可以无需使用昂贵设备，又不会因使用万用表表针无法对触屏引脚准确触碰而造成测试困难。

为了达到上述目的，本发明提供的多点触屏自动测试装置，所述多点触屏包括分布于网格矩阵各边缘的若干个信号触点以及与各该信号触点一一对应的若干个触屏引脚，该测试装置包括：

测试转接头，其一端包括与所述若干个触屏引脚对应的第一引脚，其另一端包括若干个第二引脚，各所述第一引脚对应于一第二引脚；

测试电路，其包括若干个分支电路，各该分支电路包括第一、第二信号接入点，各所述信号接入点分别一一对应于所述测试转接头的第二引脚，各所述分支电路测试位置相对的信号触点间是否断开。

可选的，所述信号转接头与所述测试电路整合为一体。

可选的，所述信号转接头与所述测试电路为相互独立的元件。

可选的，所述分支电路还包括判断支路和显示支路；所述判断支路的输入端为所述第一、第二信号接入点，输出端输出致能信号；所述显示支路接收所述致能信号而显示测试结果。

可选的，所述判断支路包括电源、第一电阻、第二电阻、第三电阻、N-MOS管；所述第一电阻一端接所述电源，所述第一电阻另一端接所述第二电阻的一端，所述第二电阻另一端接地，所述第一电阻与所述第二电阻间接入所述第一信号接入点，所述第二电阻与地间接入所述第二信号接入点；所述第三电阻一端接所述电源，所述第三电阻的另一端接所述N-MOS管的漏极，所述N-MOS管的栅极接于所述第二信号接入点与地之间，所述N-MOS管的源极接地。

可选的，所述第一电阻阻值为1000欧姆，所述第二电阻阻值为5000～10000欧姆，所述第三电阻的阻值为1000欧姆；

可选的，所述显示支路包括发光二极管、第四电阻，所述第四电阻一端接电源，另一端接所述发光二极管的正极，所述发光二极管的负极接所述N-MOS管的漏极。

可选的，所述第四电阻阻值为100欧姆。

可选的，所述第二信号接入点与地之间还接有第五电阻。

可选的，所述第五电阻阻值为十万欧姆。

相较于现有技术，利用本发明的目的多点触屏自动测试装置，由于采用测试转接头与所述触屏引脚相连，再通过所述测试电路对所述多点触屏进行自动测试并最终显示结果。从而可以无需使用昂贵设备，又不会因使用万用表表针无法对触屏引脚准确触碰而造成测试困难。

【附图说明】

图1绘示为一种多点触屏的结构示意图。

图2绘示为图1中各引脚与信号触点的对照表。

图3绘示为本发明多点触屏自动测试装置方框模块图。

图4绘示为本发明多点触屏自动测试装置一较佳实施例的分支电路结构示意图。

【具体实施方式】

请继续参阅图1、图2，再结合参阅图3，图3绘示为本发明多点触屏自动测试装置方框模块图。

为了达到上述目的，本发明提供的多点触屏自动测试装置，所述多点触屏10包括分布于网格矩阵11各边缘的若干个信号触点12以及与各该信号触点12一一对应的若干个触屏引脚14(该若干个触屏引脚14组成信号接头13)，该测试装置20包括：