[发明专利]一种电机动子位移测量方法有效
申请号: | 201210036378.8 | 申请日: | 2012-02-17 |
公开(公告)号: | CN102589405A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 胡金春;朱煜;尹文生;陈龙敏;杨开明;张鸣;徐登峰;穆海华;胡楚雄;刘召 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 邸更岩 |
地址: | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 机动 位移 测量方法 | ||
1.一种电机动子位移测量方法,其特征在于,所述方法包括:
1)在电机定子(1)磁钢阵列形成的正弦磁场中沿动子运动方向在动子(6)上布置两个磁感应强度传感器:正弦传感器(3)和余弦传感器(4),所述正弦传感器和余弦传感器相距τ/4,所述τ为电机正弦磁场的磁场极距,将所述正弦传感器的采样信号通过信号处理电路(8)量化并进行幅值归一化处理后得到正弦测量信号S0,将所述余弦传感器的采样信号通过所述信号处理电路(8)量化并进行幅值归一化处理后得到余弦测量信号C0;
2)通过所述信号处理电路(8)将所述正弦测量信号S0和余弦测量信号C0作n次倍频运算:
S1=2*S0*C0,C1=C0*C0-S0*S0,
S2=2*S1*C1,C2=C1*C1-S1*S1,
...,
Sn=2*Sn-1*Cn-1,Cn=Cn-1*Cn-1-Sn-1*Sn-1
得到正弦细分信号Sn和余弦细分信号Cn,其中:S1、C1、S2、C2...Sn-1和Cn-1为中间变量,n=1,2,3,...;
3)对所述正弦细分信号Sn和余弦细分信号Cn进行过零点检测,生成一组正交测量脉冲信号:正弦测量脉冲信号A和余弦测量脉冲信号B;所述正弦细分信号Sn>0,则所述正弦测量脉冲信号A输出高电平;所述正弦细分信号Sn<0,则所述正弦测量脉冲信号A输出低电平;所述余弦细分信号Cn>0,则所述余弦测量脉冲信号B输出高电平;所述余弦细分信号Cn<0,则所述余弦测量脉冲信号B输出低电平;
4)检测所述正弦测量脉冲信号A或余弦测量脉冲信号B的脉冲数,以及所述正弦测量脉冲信号A和所述余弦测量脉冲信号B的相位差,所述正弦测量脉冲信号A或余弦测量脉冲信号B的一个脉冲代表一个位移分辨率n=1,2,3,...,所述正弦测量脉冲信号A的相位落后于所述余弦测量脉冲信号B的相位表示正向位移,所述正弦测量脉冲信号A的相位提前于所述余弦测量脉冲信号B的相位表示反向位移,从而实现电机动子的位移测量。
2.根据权利要求1所述的一种电机动子位移测量方法,其特征在于,步骤2)中倍频运算次数n的确定方法如下:
设BM为所述电机定子磁钢阵列形成的正弦磁场的磁感应强度幅值,vx为传感器测量噪声,噪声水平为为保证能够顺利检测过零点,最大的倍频运算次数n为
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