[发明专利]跌落测试机

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子产品测试装置，尤其涉及一种用以测试电子产品的耐冲击性能的跌落测试机。

背景技术

手机、数码相机、MP3播放器、个人数字助理器(Personal Digital Assistant, 简称PDA)等小型消费性电子产品一般需进行跌落测试，以对该等电子产品的耐冲击性能进行检测。跌落测试的方法一般是将待测物品放置在预定位置，用冲击铅球从预设的高度自由跌落下来冲击该待测物品，通过待测物品的损坏状况检测该待测物品的耐冲击性能。

现有的跌落测试机通常包括一基座、设置于基座上用以承载待测产品的承载台、垂直承载台设置于基座上的滑杆以及设置于滑杆上且平行承载台设置的落球装置，通过调节所述落球装置于滑杆上滑动以将落球装置上的冲击球(通常为一铅球)调节到预设高度，然后将所述冲击球放开，令其自由跌落下来砸到承载台上的待测物，从而进行耐冲击性能测试。

然而，在使用上述跌落测试机的测试操作中，当待测物品上具有多个需要分别进行耐冲击性能测试的测试点时，一般需手动调节承载台上的待测物品的位置，再人工判断待测点是否对准待跌落的冲击球并根据判断结果对待测物品的位置加以调整。该等对准及调整的操作费时费力且一般精度较低。

发明内容

鉴于上述状况，有必要提供一种精确度较高的跌落测试机。

一种跌落测试机，用以测试待测物品的耐冲击性能，该跌落测试机包括落球装置、承载组件以及电连接至所述落球装置以及承载组件的电控箱，所述承载组件用以承载待测物品，所述落球装置用以将一具有一定重量的冲击球砸到待测物品上而提供一预设的冲击力至待测物品的测试点，该电控箱控制落球装置调节所述冲击球跌落的竖直高度，并控制承载组件调节待测物品的水平位置，从而将该冲击球依次对准待测物品的各测试点砸下，以依次对该各测试点进行耐冲击性能测试。

所述跌落测试机在需要依次对待测物品上的多个测试点进行耐冲击性能测试测试时，可自动将待测物品的测试点依次对准冲击球，而无需手动调节待测物品的位置，效率及精度均较高。

附图说明

图1是本发明的跌落测试机的立体图。

图2是图1所示的跌落测试机的立体分解图。

图3是图2所示的跌落测试机的承载组件的放大分解立体图。

图4是图2所示的跌落测试机的承载组件的另一视角的放大分解立体图。

图5是图2所示的跌落测试机的落球装置的放大分解立体图。

主要元件符号说明