[发明专利]电子元件测试治具及使用此测试治具的电子元件测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种供测试电子元件时使用的电子元件测试治具以及一种使用此电子元件测试治具的电子元件测试方法；特别是涉及一种供测试集成电路芯片模块时使用的电子元件测试治具以及一种使用此电子元件测试治具测试集成电路芯片模块的测试方法。

背景技术

随着电子装置日渐轻薄短小，集成电路芯片的速度及复杂性相对越来越高，因此对于集成电路芯片模块可靠度的要求也越来越高。因此，为保证集成电路芯片模块一切运作正常，满足使用上的要求，通常会进行一些功能测试。

如图1A及图1B所示，在进行功能测试时，作业人员会先将电子元件20放入电子元件测试治具(socket)80内，然后再启动测试程序。如果作业人员置放电子元件20的位置及方向正确，进行测试的机械动作不会对电子元件20造成危害。现有的电子元件测试治具80大多是提供具有与电子元件20底面形状及面积相仿的内凹部11，方便作业人员将电子元件20置放而达成定位。然而，此方式纯粹凭借作业人员的人工操作，当作业人员在长时间工作的情况下，有可能因为失误未将电子元件放置定位而使测试产生错误的结果，甚或造成产品、治具及测试设备的损坏。因此，现有的电子元件测试治具有改善的空间。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种供测试电子元件时使用的电子元件测试治具，可减少因电子元件未准确定位而产生的测试错误。

本发明的另一目的在于提供一种供测试电子元件时使用的电子元件测试治具，可判断电子元件的极性是否正确。

本发明的另一目的在于提供一种电子元件测试方法，可减少因电子元件未准确定位而产生的测试错误。

本发明的另一目的在于提供一种电子元件测试方法，可判断电子元件的极性是否正确。

为达上述目的，本发明的电子元件测试治具是供测试电子元件时使用，其中电子元件的第一侧面具有第一光反射部。电子元件测试治具包含承载装置以及第一光学定位装置。承载装置具有内凹部，内凹部的底部形成承载面。第一光学定位装置设置于承载装置的第一侧。第一光学定位装置具有第一光线收发部，第一光线收发部可发射光线进入内凹部以及接收来自内凹部的光线。当电子元件位于测试位置时，第一光线收发部正对第一光反射部。

当电子元件位于该测试位置时，第一光线收发部与第一光反射部的距离介于3到5mm。第一光学定位装置为具有光纤的光线收发装置，第一光线收发部设置于光纤的自由端。其中，第一光学定位装置穿设于承载装置的第一侧，且第一光线收发部与内凹部的侧壁切齐。

电子元件具有底面，当电子元件位于测试位置时，电子元件位于承载面上，且底面朝下，第一侧面面朝第一方向。电子元件具有第二侧面设置于电子元件与第一侧面相反的一侧，第二侧面具有第一光吸收部，当电子元件位于承载面上且第一侧面面朝与第一方向相反的第二方向时，第一光线收发部正对第一光吸收部。其中，第一光吸收部为凹洞或具有光吸收材料涂层之面。

本发明的电子元件测试方法包含下列步骤：提供前述的电子元件测试治具；将电子元件放置于承载面上；以及对电子元件进行定位测试。电子元件测试方法进一步包含当电子元件位于该测试位置时，对电子元件进行功能测试。

电子元件的该第一侧面具有第二光反射部，电子元件测试治具进一步具有第二光学定位装置设置于承载装置的第一侧，第二光学定位装置具有第二光线收发部，第二光线收发部可发射光线进入内凹部以及接收来自内凹部的光线，当电子元件位于测试位置时，第二光线收发部正对第二光反射部。第一光反射部及第二光反射部分别设置于第一侧面远离的两端。当电子元件位于测试位置时，第二光线收发部与第二光反射部的距离介于3到5mm。

电子元件具有底面，当电子元件位于测试位置时，电子元件位于承载面上，且底面朝下，第一侧面面朝第一方向；其中电子元件具有第二侧面设置于电子元件与第一侧面相反的一侧，第二侧面具有第一光吸收部以及第二光吸收部，当电子元件位于承载面上且第一侧面面朝与第一方向相反的第二方向时，第一光线收发部以及第二光线收发部分别正对第一光吸收部以及第二光吸收部。第一光吸收部以及第二光吸收部为凹洞或具有光吸收材料涂层之面。

本发明的电子元件测试方法包含下列步骤：提供前二段落所述的电子元件测试治具；将电子元件放置于承载面上；以及对电子元件进行定位测试。电子元件测试方法进一步包含在将电子元件放置于承载面上以及对电子元件进行定位测试前，对电子元件进行极性测试。电子元件测试方法进一步包含当电子元件位于测试位置时，对电子元件进行功能测试。

附图说明

图1A及图1B为现有技术示意图；