[发明专利]用于校正配准偏差的图像形成装置及图像形成方法有效

专利信息
申请号: 201210041948.2 申请日: 2012-02-15
公开(公告)号: CN102647536A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 森田靖二郎 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H04N1/00 分类号: H04N1/00;H04N1/047;G03G15/00
代理公司: 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 代理人: 迟军;李艳丽
地址: 日本东京都*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 校正 偏差 图像 形成 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种图像形成装置,该图像形成装置包括:

获得部,其被构造成获得表示副扫描位置的副扫描位置信息;

低分辨率校正部,其被构造成基于所述副扫描位置信息,使用第二存储部校正小于预定分辨率的分辨率单位的配准偏差;以及

高分辨率校正部,其被构造成基于所述副扫描位置信息,使用与所述第二存储部相比能够进行更高速度的随机存取的第一存储部,校正高于所述低分辨率校正部的处理单位的分辨率单位的配准偏差。

2.根据权利要求1所述的图像形成装置,

其中,所述低分辨率校正部使用能够对连续地址存取进行比随机地址存取更高速度处理的第二存储部。

3.根据权利要求1所述的图像形成装置,

其中,所述低分辨率校正部使用能够存储与至少对应于配准偏差的行数对应的图像数据的第二存储部。

4.根据权利要求1所述的图像形成装置,

其中,所述高分辨率校正部使用能够输出与所述低分辨率校正部的处理单位对应的高分辨率单位的图像数据的第一存储部。

5.根据权利要求1所述的图像形成装置,

其中,所述高分辨率校正部基于所述副扫描位置信息,使用所述第一存储部从多个行数据进行采样处理。

6.根据权利要求1所述的图像形成装置,

其中,所述低分辨率校正部基于所述副扫描位置信息改变从所述第二存储部的读取位置。

7.根据权利要求1所述的图像形成装置,

其中,所述获得部获得包括低分辨率校正信息和高分辨率校正信息的所述副扫描位置信息。

8.根据权利要求7所述的图像形成装置,

其中,所述低分辨率校正信息表示以配准偏差偏离副扫描方向最近的位置为基准、所述低分辨率校正部处理的处理单位的各主扫描位置的副扫描位置。

9.根据权利要求8所述的图像形成装置,

其中,所述高分辨率校正信息表示以配准偏差偏离副扫描方向最近的位置为基准、由所述低分辨率校正信息表示的各主扫描位置的副扫描位置的余项。

10.根据权利要求5所述的图像形成装置,

其中,当在采样目标区域中没有图像数据时,所述高分辨率校正部添加虚拟数据。

11.根据权利要求6所述的图像形成装置,

其中,当在读取位置没有图像数据时,所述低分辨率校正部添加虚拟数据。

12.根据权利要求1所述的图像形成装置,

其中,所述低分辨率校正部由集成电路设备构成,所述第二存储部由外部存储设备构成。

13.一种图像形成方法,该图像形成方法包括:

获得步骤,获得表示副扫描位置的副扫描位置信息;

低分辨率校正步骤,基于所述副扫描位置信息,使用第二存储部校正小于预定分辨率的分辨率单位的配准偏差;以及

高分辨率校正步骤,基于所述副扫描位置信息,使用与所述第二存储部相比能够进行更高速度的随机存取的第一存储部,校正高于所述低分辨率校正步骤的处理单位的分辨率单位的配准偏差。

14.一种能够存储于非瞬态计算机可读存储介质中的控制程序,所述控制程序使计算机执行以下处理:

获得步骤,获得表示副扫描位置的副扫描位置信息;

低分辨率校正步骤,基于所述副扫描位置信息,使用第二存储部校正小于预定分辨率的分辨率单位的配准偏差;以及

高分辨率校正步骤,基于所述副扫描位置信息,使用与所述第二存储部相比能够进行更高速度的随机存取的第一存储部,校正高于所述低分辨率校正步骤的处理单位的分辨率单位的配准偏差。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210041948.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top