[发明专利]液晶单元特性测定装置以及液晶单元特性测定方法

权利要求书

1.一种液晶单元特性测定装置，至少能测定该液晶单元的厚度或该液晶单元内的液晶分子的预倾角，该液晶单元特性测定装置的特征在于包括：

光源；

至少三个偏光产生器，每一偏光产生器从该光源取出具有特定偏光成分的一偏光光线，每一偏光光线以一倾斜入射角度投射到该液晶单元；

至少三个物镜，每一物镜以设定的一收光角度而接收透射过该液晶单元的每一偏光光线，该收光角度对应于该倾斜入射角度；

至少三个偏光分析器，每一偏光分析器取得来自于每一物镜的该偏光光线的偏光强度；以及

数据处理器，根据至少三个收光角度中的每一偏光光线的偏光强度，而计算该液晶单元的厚度或该液晶单元内的液晶分子的预倾角。

2.如权利要求1所述的液晶单元特性测定装置，其特征在于，至少三个该收光角度分别为：

等于90度、大于90度以及小于90度。

3.如权利要求1所述的液晶单元特性测定装置，其特征在于，至少三个该收光角度分别为：

两个该收光角度大于等于90度、且一个该收光角度小于90度。

4.如权利要求1所述的液晶单元特性测定装置，其特征在于，至少三个该收光角度分别为：

一个该收光角度大于等于90度、且两个该收光角度小于90度。

5.如权利要求1的液晶单元特性测定装置，其特征在于还包括：

至少三个第一导光元件，光学地连接于该光源、且分别从该光源取得一光线；以及

至少三个准直透镜，每一准直透镜光学地连接于每一第一导光元件，每一准直透镜使得每一光线成为一准直光线而入射每一偏光产生器。

6.如权利要求1的液晶单元特性测定装置，其特征在于还包括：

至少三个成像透镜，每一成像透镜设置于每一偏光分析器的一光学下游侧，接收来自每一偏光分析器的每一偏光光线。

7.如权利要求1的液晶单元特性测定装置，其特征在于还包括：

至少三个光接收模块，每一光接收模块设置于每一偏光分析器的一光学下游侧，每一光接收模块取得来自于每一偏光分析器的该偏光光线的光强度。

8.如权利要求7的液晶单元特性测定装置，其特征在于还包括：

至少三个第二导光元件，每一第二导光元件光学地连接于每一光接收模块。

9.如权利要求8的液晶单元特性测定装置，其特征在于还包括：

多波长光谱仪模块，光学地连接于每一第二导光元件与该数据处理器之间。

10.如权利要求7的液晶单元特性测定装置，其特征在于，每一光接收模块包括：

孔径镜片，通过每一偏光分析器的该偏光光线的一第一部分通过该孔径镜片而在一第一光径上传输、且该偏光光线的一第二部分被该孔径镜片反射而在一第二光径上传输，该第一光径垂直于该第二光径；

聚焦透镜，设置于该第一光径上、接收该偏光光线的该第一部分，且将该偏光光线的该第一部分往该数据处理器传输；

消色差透镜，设置于该第二光径上、接收该偏光光线的该第二部分；以及

光学感测器，设置于该第二光径上，感测经过该消色差透镜的该偏光光线的该第二部分。

11.如权利要求1的液晶单元特性测定装置，其特征在于还包括：

光谱分光模块，设置于该光源与该些偏光产生器之间。

12.如权利要求1的液晶单元特性测定装置，其特征在于，该特定偏光成分包括：线偏光、圆偏光或椭圆偏光。

13.如权利要求1所述的液晶单元特性测定装置，其特征在于，该偏光产生器包括：一起偏器。

14.如权利要求1所述的液晶单元特性测定装置，其特征在于，该偏光产生器包括：一起偏器以及一相位差调制器，该相位差调制器设置于该起偏器的一光学下游侧。

15.如权利要求1所述的液晶单元特性测定装置，其特征在于，该偏光分析器包括：一检偏器。

16.如权利要求1所述的液晶单元特性测定装置，其特征在于，该偏光分析器包括：一相位差调制器以及一检偏器，该相位差调制器设置于该检偏器的一光学上游侧。