[发明专利]一种珐布里-珀罗干涉仪及其制备方法

权利要求书

1.一种珐布里-珀罗干涉仪，包括在一段光纤上刻写了第一光纤布拉格光栅和第二光纤布拉格光栅，其特征是，所述第一、第二光纤布拉格光栅之间通过微纳光纤连接，所述微纳光纤作为谐振腔。

2.根据权利要求1中所述的珐布里-珀罗干涉仪，其特征在于，所述的微纳光纤的光纤直径在0.1~10                                               之间，拉制的长度在0.5~3cm之间。

3.根据权利要求1或2中所述的珐布里-珀罗干涉仪的制备方法，其特征在于，包括以下步骤：

在光学平台上，利用电动平移台和光纤夹具将一段光纤固定，然后在所述光纤前方平行放置一相位掩模板，所述相位掩模板中间前方放置一个金属挡板；用紫外激光对所述相位掩模板进行扫描照射，即在所述光纤上形成第一光纤布拉格光栅、无光栅结构区域和第二光纤布拉格光栅交替结构；

移去所述相位掩模板和金属挡板，将氢气火焰对准所述无光栅结构区域并加热，用于固定所述光纤的电动位移平台同时开始相离运动，待光纤拉伸为所述微纳光纤且达到所需长度后，停止拉伸，并迅速撤去氢气火焰，即完成本发明所述珐布里-珀罗干涉仪的制备。