[发明专利]逻辑分析仪的数据读取及写入其存储器的方法

说明书

技术领域

本发明与逻辑分析仪有关，尤其是一种逻辑分析仪的数据读取及写入其存储器的方法。

背景技术

随着数字科技的进步，如电子芯片、液晶屏幕(LCD)的图像处理芯片、互补性金属氧化物半导体(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，CMOS)、以及电荷耦合元件(Charge Coupled Device，CCD)等使用数字数据传输数据的电子装置日渐普及。

当研发人员在研发具有上述电子装置时，通常会利用逻辑分析仪来提取电子装置所输出的数据中的数字数据，并通过分析上述所提取的数字数据，来判定上述电子装置的设计是否正常。

而市面上出售的逻辑分析仪通常是以放满存储器的方式来提取电子装置输出的数字数据，但实际上，研发人员需要的数据仅为所提取的数字数据中的一小部分而已，而使得上述的提取及储存方法不仅会造成存储器的使用效率低下，亦会降低研发人员分析数字数据的效率。因此，现有逻辑分析仪所使用的数据读取及写入其存储器的方法仍未臻完善，且尚有待改进之处。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种逻辑分析仪的数据读取及写入其存储器的方法，不仅可以增加存储器的使用效率，且仅针对有需求的数据进行读取及写入并暂存，而可不须浪费时间进行其他不必要数据的分析，进而能提升研发人员分析数字数据的效率。

为了达到上述目的，本发明提供一种逻辑分析仪的数据读取及写入其存储器的方法，该方法包含下列步骤：

A.划分该存储器为至少一第一写入区以及一第二写入区；

B.建立一第一触发条件以及一第二触发条件；

C.持续读取一数字数据并写入该存储器中；

D.分析写入该存储器中的数据，并将符合该第一触发条件起一预定长度的数据暂存于该第一写入区，且停止再写入数据至该第一写入区；将符合该第二触发条件起一预定长度的数据暂存于该第二写入区，且停止再写入数据至该第二写入区。

依据上述构思，步骤A中所划分的该第一写入区具有一第一长度，而该第二写入区具有一第二长度；另外，步骤D中，暂存于该第一写入区的数据的长度不大于该第一长度；而暂存于该第二写入区的数据的长度不大于该第二长度。

依据上述构思，步骤A中，所述的该第一长度等于该第二长度。

依据上述构思，步骤A中，所述的该第一长度不等于该第二长度。

依据上述构思，步骤B中，所述的该第一触发条件等于该第二触发条件。

依据上述构思，步骤B中，所述的该第一触发条件不等于该第二触发条件。

依据上述构思，步骤D中，以一第一采样频率写入并暂存数据至该第一写入区，并以一第二采样频率写入并暂存数据至该第二写入区，且该第一采样频率等于该第二采样频率。

依据上述构思，步骤D中，以一第一采样频率写入并暂存数据至该第一写入区，并以一第二采样频率写入并暂存数据至该第二写入区，且该第一采样频率不等于该第二采样频率。

依据上述构思，步骤D写入并暂存数据至该第一写入区时、以及写入并暂存数据至该第二写入区时，同时暂存提取数据时的时间点。

依据上述构思，步骤D中写入并暂存提取数据时与读取数据起始时、或与前一次写入并暂存数据时之间的时间间隔。

依据上述构思，以一计数器所计算的次数作为储存时间点的依据，且该计数器每间隔一预定时间计数一次。

依据上述构思，以计算各种预定数据的产生次数与产生时间相乘后的总和作为储存时间点的依据。

依据上述构思，步骤C中，该数据持续于该第一写入区写入并覆盖，而当步骤D中分析到该数据中符合第一触发条件时，则将符合该第一触发条件起该预定长度的数据暂存于该第一写入区，且停止再写入数据至该第一写入区。

依据上述构思，步骤C中，所接收的数据于该第二写入区写入并覆盖，而当步骤D中分析到该数据中符合第二触发条件时，则将符合该第二触发条件起该预定长度的数据暂存于该第二写入区，且停止再写入数据至该第二写入区。

依据上述构思，步骤D中，可设定暂存于该第一写入区的数据的长度。

依据上述构思，步骤D中，可设定暂存于该第二写入区的数据的长度。

依据上述构思，步骤C中，先将所读取的数据写入该存储器的该第一写入区中，且当步骤D停止再写入数据至该第一写入区后，再开始将所读取的数据写入该存储器的该第二写入区中。

依据上述构思，步骤C中，将所读取的数据分别同时写入该第一写入区与该第二写入区中。