[发明专利]一种信号传导和天线的调试方法有效

专利信息
申请号: 201210048346.X 申请日: 2012-02-29
公开(公告)号: CN103293403A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 朱俊;霍勇 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;H04B17/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 信号 传导 天线 调试 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于通信领域,尤其涉及一种信号传导和天线的调试方法。

背景技术

随着手机的发展,对手机全向辐射性能的要求越来越高,在以前不做要求的BLUETOOTH、WIFI、GPS、FM等辐射性能,现在也有了相应的标准;目前的高端智能手机由于越做越小、越做越薄,再加上各种金属件的影响,使得天线环境越来越恶劣。另外,由于手机板型的限制,迫使在有些情况下阻抗线的走线不得已加长,或阻抗线只能走手机PCB板的内层等等,这些状况严重恶化了信号的传导性能,使得BLUETOOTH/WIFI信号经过阻抗线后不能有效地传输到天线,最终导致辐射性能不能满足要求。具体地,信号在内层走线中会发生层间信号的反射,抑制了信号的传输,导致最终恶化了信号的传导性能,而信号传导性能的要求就是信号在传输过程中损耗越小越好。

本发明的发明人发现,在现有的辐射性能测试中,会存在调试过程中无源测试和有源测试的差异,最终导致信号或能量不能有效地从信号源传送到负载。其中,所述有源测试是指实际信号在手机的整个通路中进行传输,考虑到手机中其他模块对天线影响下实际的天线性能;而无源测试是指在天线的调试过程中,模拟出的天线工作状态,此处所述的天线性能是指在手机关机情况下,利用模拟出的信号进行传输,单纯考虑调试状态下的天线性能。此外,在高频情况下,寄生元件(阻抗线上的电感、阻抗线走线板层间的电容)也会对天线调试产生明显的、不可预知的影响。

发明内容

本发明的目的是提供一种信号传导和天线的调试方法,解决现有技术中由于阻抗线走线过长而导致对信号传导和天线调试的影响的技术问题,使得恶劣环境限制下仍然满足高辐射指标成为可能。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的:

一种信号传导和天线的调试方法,所述信号由芯片输出至与信号处理器前端连接的信号测试装置,所述天线顺序与天线匹配网络、阻抗线和与信号处理器后端连接的天线调试装置连接,所述调试方法将信号处理器断开,利用信号测试装置在芯片输出后的信号处理器前端引出信号进行传导调试,天线调试装置在信号处理器后端进行天线调试。

本发明提供的信号传导和天线的调试方法中,将信号处理器断开,利用信号测试装置在芯片输出后的信号处理器前端引出信号进行传导调试,天线调试装置在信号处理器后端进行天线调试,将阻抗线也看作天线的匹配来协调信号传导和天线的调试,即将阻抗线由于走线过长,所造成的信号发射衰减、损耗过大,或者使阻抗线呈现出一定的容性或者感性,最终导致天线谐振点偏移、天线效率降低,信号或能量不能有效地从信号源传送到负载,带来在调试过程中无源天线和有源天线的差异的影响包括进来,避免了阻抗线对信号传导和天线调试带来的影响,使得恶劣环境限制下仍然满足高辐射指标成为可能。

附图说明  

图1是本发明提供的信号传导和天线的调试示意图。

具体实施方式

为了使本发明所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。

请参考图1所示,一种信号传导和天线的调试方法,所述信号由芯片11输出至与信号处理器12前端(端口2)连接的信号测试装置(图中未标示),所述天线13顺序与天线匹配网络14、阻抗线15和与信号处理器12后端(端口4)连接的天线调试装置(图中未标示)连接,所述调试方法将信号处理器12断开,利用信号测试装置在芯片11输出后的信号处理器12前端引出信号进行传导调试,天线调试装置在信号处理器12后端进行天线调试。

本发明提供的信号传导和天线的调试方法中,将信号处理器断开,利用信号测试装置在芯片输出后的信号处理器前端引出信号进行传导调试,天线调试装置在信号处理器后端进行天线调试,将阻抗线也看作天线的匹配来协调信号传导和天线的调试,即将阻抗线由于走线过长,所造成的信号发射衰减、损耗过大,或者使阻抗线呈现出一定的容性或者感性,最终导致天线谐振点偏移、天线效率降低,信号或能量不能有效地从信号源传送到负载,带来在调试过程中无源天线和有源天线的差异的影响包括进来,避免了阻抗线对信号传导和天线调试带来的影响,使得恶劣环境限制下仍然满足高辐射指标成为可能。

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